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    Study of the Mo thin films and Mo/CIGS interface properties
    ASSMANN, L ; BERNEDE, J. C ; et al.
    In: Applied surface science, Jg. 246 (2005), Heft 1-3, S. 159-166
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Copper-indium-gallium-diselenide/molybdenum layers analyzed by corrected SIMS depth profiles
    BILGER, G ; GRABITZ, P. O ; et al.
    In: Secondary ion mass spectrometry SIMS XIV: Proceedings of the Fourteenth International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry and Related Topics, San Diego, California, USA, September 14-19, 2003, Jg. 231-32 (2004), S. 804-807
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Chemical bath-deposited ZnS thin films : Preparation and characterization
    QI, LIU ; MAO, GUOBING ; et al.
    In: Applied surface science, Jg. 254 (2008), Heft 18, S. 5711-5714
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Structural and morphological properties of Cu(In, Ga)Se2 thin films on Mo substrate
    CABALLERO, R ; GUILLEN, C
    In: APHYS2003, Jg. 238 (2004), Heft 1-4, S. 180-183
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Growth studies and characterisation of In2S3 thin films deposited by atomic layer deposition (ALD)
    NAGHAVI, N ; HENRIQUEZ, R ; et al.
    In: Applied surface science, Jg. 222 (2004), Heft 1-4, S. 65-73
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
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