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  1. KOAK, N ; VISSER, R. M ; et al.
    In: Proceedings of the eighth international conference on properties and phase equilibria for product and process design, Noordwijkerhout, The Netherlands, April 26-May 1, 1998, Jg. 158-60 (1999), S. 835-846
    Konferenz
  2. MACHADO, J. J. B ; DE LOOS, Th. W
    In: Proceedings of the Tenth International Conference on Properties and Phase Equilibria for Product and Process Design, Jg. 228-29 (2005), S. 261-268
    Konferenz
  3. LEYS, F. E ; BONZOM, R ; et al.
    In: E-MRS 2006 Symposium T : Germanium based semiconductors from materials to devices, Jg. 9 (2006), Heft 4-5, S. 679-684
    Konferenz
  4. SAVENIJE, Tom J ; KROEZE, Jessica E ; et al.
    In: Proceedings of Symposium F on Thin Film and Nanostructured Materials for Photovoltaics, EMRS 2005 Conference, Strasbourg, France, May 31-June 3, Jg. 511-12 (2006), S. 2-6
    Konferenz
  5. TAKAKURA, K ; OHYAMA, H ; et al.
    In: E-MRS 2006 Symposium T : Germanium based semiconductors from materials to devices, Jg. 9 (2006), Heft 4-5, S. 732-736
    Konferenz
  6. LAU, Kenneth K. S ; YU, MAO ; et al.
    In: Proceedings of the Third International Conference on Hot-Wire CVD (Cat-CVD) Process, Utrecht, The Netherlands, August 23-27, 2004, Jg. 501 (2006), Heft 1-2, S. 211-215
    Konferenz
  7. CAYMAX, Matty ; DELHOUGNE, Romain ; et al.
    In: Proceedings of the Fourth International Conference on Silicon Epitaxy and Heterostructures (ICSI-4), Awaji Island, Hyogo, Japan, Jg. 508 (2006), Heft 1-2, S. 260-265
    Konferenz
  8. BUCA, D ; FESTE, S. F ; et al.
    In: 2005 ULIS Conference. Selected papers, Jg. 50 (2006), Heft 1, S. 32-37
    Konferenz
  9. LEYS, F. E ; BONZOM, R ; et al.
    In: Proceedings of the Fourth International Conference on Silicon Epitaxy and Heterostructures (ICSI-4), Awaji Island, Hyogo, Japan, Jg. 508 (2006), Heft 1-2, S. 292-296
    Konferenz
  10. LOO, Roger ; VERHEYEN, Peter ; et al.
    In: Proceedings of the Fourth International Conference on Silicon Epitaxy and Heterostructures (ICSI-4), Awaji Island, Hyogo, Japan, Jg. 508 (2006), Heft 1-2, S. 266-269
    Konferenz
  11. KKENZ, R. A ; HEIDEMANN, R. A ; et al.
    In: Proceedings of the Tenth International Conference on Properties and Phase Equilibria for Product and Process Design, Jg. 228-29 (2005), S. 427-437
    Konferenz
  12. MACHADO, J. J. B ; DE LOOS, Th. W
    In: Fluid phase equilibria, Jg. 226 (2004), S. 83-90
    academicJournal
  13. DECKER, D ; LOOS, E ; et al.
    In: Materials for Advanced Metallization, MAM 2004. Proceedings of the European Workshop on Materials for Advanced Metallization 2004, Brussels, Belgium, March 7-10, Jg. 76 (2004), Heft 1-4, S. 331-335
    Konferenz
  14. MACHADO, J. J. B ; DE LOOS, Th. W
    In: Proceedings of the Fifteenth Symposium on Thermophysical Properties, Boulder, Colorado, U.S.A., June 22-27, 2003, Jg. 222-23 (2004), S. 261-267
    Konferenz
  15. POOT, Wim ; DE LOOS, Theo W
    In: Proceedings of the Fifteenth Symposium on Thermophysical Properties, Boulder, Colorado, U.S.A., June 22-27, 2003, Jg. 222-23 (2004), S. 255-259
    Konferenz
  16. ZHAO, Q. T ; BUCA, D ; et al.
    In: Materials for Advanced Metallization, MAM 2004. Proceedings of the European Workshop on Materials for Advanced Metallization 2004, Brussels, Belgium, March 7-10, Jg. 76 (2004), Heft 1-4, S. 285-289
    Konferenz
  17. LOO, Roger ; COLLAERT, Nadine ; et al.
    In: Proceedings of the First International SiGe Technology and Device Meeting (ISTDM 2003), From Materials and Process Technology to Device and Circuit Technology Nagoya University Symposion, Jg. 224 (2004), Heft 1-4, S. 292-296
    Konferenz
  18. DELHOUGNE, Romain ; MEUNIER-BEILLARD, Philippe ; et al.
    In: Proceedings of the First International SiGe Technology and Device Meeting (ISTDM 2003), From Materials and Process Technology to Device and Circuit Technology Nagoya University Symposion, Jg. 224 (2004), Heft 1-4, S. 91-94
    Konferenz
  19. BULLE-LIEUWMA, C. W. T ; VAN DUREN, J. K. J ; et al.
    In: Secondary ion mass spectrometry SIMS XIV: Proceedings of the Fourteenth International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry and Related Topics, San Diego, California, USA, September 14-19, 2003, Jg. 231-32 (2004), S. 274-277
    Konferenz
  20. LOO, Roger ; CAYMAX, Matty
    In: Proceedings of the First International SiGe Technology and Device Meeting (ISTDM 2003), From Materials and Process Technology to Device and Circuit Technology Nagoya University Symposion, Jg. 224 (2004), Heft 1-4, S. 24-30
    Konferenz
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