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    AAES, LEELS and XPS studies on the interface formation between layered semiconductors GaSe and InSe
    NAKAYAMA, N ; KURAMACHI, T ; et al.
    In: Surface science, Jg. 244 (1991), Heft 1-2, S. 58-66
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Ab initio calculations of structural features not easily amenable to experiment. LXXIV: conformational analysis of cyclotrimethylene-trinitramine (RDX)
    COFFIN, J. M ; NEWTON, S. Q ; et al.
    In: Journal of molecular structure. Theochem, Jg. 251 (1991), S. 219-228
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Phase tailoring of Ta thin films by highly ionized pulsed magnetron sputtering
    ALAMI, J ; EKLUND, P ; et al.
    In: Thin solid films, Jg. 515 (2007), Heft 7-8, S. 3434-3438
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -