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In: MICROELECTRONICS RELIABILITY, Jg. 39 (1999), Heft 6-7, S. 839-844serialPeriodicalZugriff:
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In: MICROELECTRONICS RELIABILITY, Jg. 38 (1998), Heft 11, S. 1749-1762serialPeriodicalZugriff:
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Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!academicJournalZugriff: