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    Design of a High-ESD-Robustness Multi-point LVDS Interface Using Current Mirror in $0.18-\mu \mathrm{m}$ 3.3-V CMOS Process
    Qian, Lingli ; Huang, Xiaozong ; et al.
    In: 2022 International EOS/ESD Symposium on Design and System (IEDS), 2022-11-09, S. 1-5
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    A Behavioral Model for ESD Self-Protection RF Switches in the SOI CMOS Technology
    Liu, Jian ; Peachey, Nathaniel
    In: 2022 International EOS/ESD Symposium on Design and System (IEDS), 2022-11-09, S. 1-8
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    CMOS Latch-up Improvement: Embedded Active Collector in FinFET Technology
    Huang, Chien-Yao ; Lin, Wun-Jie ; et al.
    In: 2022 44th Annual EOS/ESD Symposium (EOS/ESD), Jg. EOS-44 (2022-09-18), S. 1-6
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    ESD Protection Based on Stacked SCRs With Adjustable Triggering Voltage for CMOS High-Voltage Application
    Bourgeat, Johan ; Solaro, Yohann ; et al.
    In: 2022 44th Annual EOS/ESD Symposium (EOS/ESD), Jg. EOS-44 (2022-09-18), S. 1-6
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Study on Latchup Path between HV-LDMOS and LV-CMOS in a 0.16-μm 30-V/1.8-V BCD Technology
    Dai, Chia-Tsen ; Ker, Ming-Dou ; et al.
    In: 2018 40th Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium (EOS/ESD), 2018-09-01, S. 1-6
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    ESD and Latch-up failures through triple-well in a 65nm CMOS technology
    Alvarez, David ; Hartung, Wolfgang ; et al.
    In: 2018 40th Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium (EOS/ESD), 2018-09-01, S. 1-8
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Consideration Based on ESD Applied Waveform in High-Speed IF Using T-Coil
    Kano, Hideki ; Suzuki, Teruo
    In: 2023 45th Annual EOS/ESD Symposium (EOS/ESD), Jg. EOS-45 (2023-10-02), S. 1-8
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Novel ESD characterization method for bipolar devices using a combined TLP system with dynamic base bias
    Magrini, Filippo ; Stein, Bernhard ; et al.
    In: 2023 45th Annual EOS/ESD Symposium (EOS/ESD), Jg. EOS-45 (2023-10-02), S. 1-6
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Novel Topological Layout for ESD protection for high-speed I/O applications
    Ma, Qinling ; Liang, Hailian
    In: 2022 International EOS/ESD Symposium on Design and System (IEDS), 2022-11-09, S. 1-4
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Novel Ring Silicon-Controlled Rectifier for ESD Protection of Low-Voltage Circuits
    Yu, Fangjun ; Zhu, Xinyu ; et al.
    In: 2022 International EOS/ESD Symposium on Design and System (IEDS), 2022-11-09, S. 1-4
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    New LVTSCR with low parasitic capacitance for RFICs ESD protection
    Han, Aoran ; Zhang, Yuxin ; et al.
    In: 2022 International EOS/ESD Symposium on Design and System (IEDS), 2022-11-09, S. 1-5
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Unexpected Latchup Risk Observed in FDSOI Technology – Analysis and Prevention Techniques
    Sithanandam, Radhakrishnan ; Jeon, Chanhee ; et al.
    In: 2018 40th Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium (EOS/ESD), 2018-09-01, S. 1-7
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    External Latchup Risks and Prevention Solutions in Advanced Bulk FinFET Technology
    Liang, Wei ; Gauthier, Robert ; et al.
    In: 2019 41st Annual EOS/ESD Symposium (EOS/ESD), Jg. EOS-41 (2019-09-01), S. 1-9
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    EOS Protection of the Low Voltage Gate Oxide Devices
    Vashchenko, Vladislav ; Malobabic, Slavica
    In: 2019 41st Annual EOS/ESD Symposium (EOS/ESD), Jg. EOS-41 (2019-09-01), S. 1-7
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    ESD Protection Design for Fan-Out Panel-Level Packaging
    Lin, Chun-Yu ; Hsieh, Chia-You ; et al.
    In: 2022 International EOS/ESD Symposium on Design and System (IEDS), 2022-11-09, S. 1-5
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Layout Geometry Impact on ESD Robustness of Multi-Finger Asymmetric DDSCR Devices
    Guan, Wenjie ; Wang, Yang ; et al.
    In: 2022 International EOS/ESD Symposium on Design and System (IEDS), 2022-11-09, S. 1-6
    Konferenz
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Study of RC-Diode ESD Protection Circuit for High-Frequency Applications
    Lin, Chun-Yu ; Li, Bo-Yan ; et al.
    In: 2022 International EOS/ESD Symposium on Design and System (IEDS), 2022-11-09, S. 1-4
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Breakdown Voltage Shift Mechanism Analysis of Bi-directional ESD Protection Device After Total Ionizing Dose Test
    Zhongyu, Lin ; Daohong, Zhong ; et al.
    In: 2022 International EOS/ESD Symposium on Design and System (IEDS), 2022-11-09, S. 1-5
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Think Nontraditionally for Future ESD Protection (Invited)
    Pan, Zijin ; Hao, Weiquan ; et al.
    In: 2022 44th Annual EOS/ESD Symposium (EOS/ESD), Jg. EOS-44 (2022-09-18), S. 1-8
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Tracing and Debugging of ESD Failures in a Module Assembly Line
    Shoshany, Yossi ; Dhakad, Harshit ; et al.
    In: 2022 44th Annual EOS/ESD Symposium (EOS/ESD), Jg. EOS-44 (2022-09-18), S. 1-10
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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