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    Exploring ESD challenges in sub-20-nm bulk FinFET CMOS technology nodes
    Chen, Shih-Hung ; Hellings, Geert ; et al.
    In: 2013 35th Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium, 2013-09-01, S. 1-8
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Point to point ESD protection network, a flexible and competitive strategy demonstrated in advanced CMOS technology
    Guitard, Nicolas ; Bourgeat, Johan ; et al.
    In: 2013 35th Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium, 2013-09-01, S. 1-10
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    ESD device performance analysis in a 14nm FinFET SOI CMOS technology: Fin-based versus planar-based
    Li, Junjun ; Gauthier, Robert ; et al.
    In: Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium Proceedings 2014, 2014-09-01, S. 1-6
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Device interactions between ESD diodes and NMOS clamps in CMOS processes
    Stockinger, Michael ; Secareanu, Radu ; et al.
    In: Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium Proceedings 2014, 2014-09-01, S. 1-9
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Impact of the on-chip and off-chip ESD protection network on transient-induced latch-up in CMOS IC
    Scholz, Mirko ; Chen, Shih-Hung ; et al.
    In: 2013 35th Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium, 2013-09-01, S. 1-7
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    ESD-transient detection circuit with equivalent capacitance-coupling detection mechanism and high efficiency of layout area in a 65nm CMOS technology
    Yeh, Chih-Ting ; Ker, Ming-Dou
    In: 2013 35th Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium, 2013-09-01, S. 1-7
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    High CDM resistant low-cap SCR for 0.9V advanced CMOS technology
    Su, Yu-Ti ; Chang, Tzu-Heng ; et al.
    In: 2013 35th Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium, 2013-09-01, S. 1-7
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Automated latchup analysis
    Vashchenko, V.A. ; Shibkov, A.A.
    In: Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium Proceedings 2014, 2014-09-01, S. 1-8
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Table of contents
    In: 2013 35th Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium, 2013-09-01, S. 7
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    General chairman's welcome
    In: 2013 35th Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium, 2013-09-01, S. 1
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Technical program committee 2013
    In: 2013 35th Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium, 2013-09-01, S. 1
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Junction engineering for SOI SCR triggering and performance improvement
    Li, You ; Li, Junjun ; et al.
    In: Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium Proceedings 2014, 2014-09-01, S. 1-8
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Investigation of SOI SCR triggering and current sustaining under DC and TLP conditions
    Li, Junjun ; Di Sarro, James ; et al.
    In: 2013 35th Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium, 2013-09-01, S. 1-6
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Thyristor compact model for ESD, DC and RF simulation
    Langguth, Genot ; Soldner, Wolfgang ; et al.
    In: 2013 35th Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium, 2013-09-01, S. 1-10
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    20GHz on-chip measurement of ESD waveform for system level analysis
    Caignet, F. ; Nolhier, N. ; et al.
    In: 2013 35th Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium, 2013-09-01, S. 1-9
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    CDM single power domain failures in 90nm
    Alvarez, David ; Kupfer, Claudia ; et al.
    In: 2013 35th Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium, 2013-09-01, S. 1-8
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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