Zum Hauptinhalt springen
UB Hagen

Suchergebnisse

UB Katalog

Artikel & mehr
159 Treffer

Suchmaske

Suchtipp für den Bereich Artikel & mehr: Wörter werden automatisch mit UND verknüpft. Eine ODER-Verknüpfung erreicht man mit dem Zeichen "|", eine NICHT-Verknüpfung mit einem "-" (Minus) vor einem Wort. Anführungszeichen ermöglichen eine Phrasensuche.
Beispiele: (burg | schloss) -mittelalter, "berufliche bildung"

Das folgende Suchfeld wird hier nicht unterstützt: "Signatur / Strichcode".

Suchergebnisse einschränken oder erweitern

Aktive Suchfilter

Erscheinungszeitraum

Mehr Treffer

Weniger Treffer

Gefunden in

Art der Quelle

Schlagwort

Publikation

Geographischer Bezug

159 Treffer

Sortierung: 
  1. Detailansicht für Treffer 1 öffnen
    CMOS compatible manufacturing of a hybrid SET-FET circuit
    del Moral, Alberto ; Amat, Esteve ; et al.
    In: ISSN: 0268-1242, 2022
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    CMOS compatible manufacturing of a hybrid SET-FET circuit
    del Moral, Alberto ; Amat, Esteve ; et al.
    In: ISSN: 0268-1242, 2022
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Development of CMOS dosimetry in proton minibeams for enhanced QA and primary standard absorbed dose calorimetry
    Flynn, Samuel ; Allport, Philip ; et al.
    In: ISSN: 1748-0221 ; Journal of Instrumentation ; https://cnrs.hal.science/hal-04236336 ; Journal of Instrumentation, 2023, 18 (03), pp.P03014. ⟨10.1088/1748-0221/18/03/P03014⟩, 2023
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Development of CMOS dosimetry in proton minibeams for enhanced QA and primary standard absorbed dose calorimetry
    Flynn, Samuel ; Allport, Philip ; et al.
    In: ISSN: 1748-0221 ; Journal of Instrumentation ; https://cnrs.hal.science/hal-04236336 ; Journal of Instrumentation, 2023, 18 (03), pp.P03014. ⟨10.1088/1748-0221/18/03/P03014⟩, 2023
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Tolerance of the MIMOSIS-1 CMOS Monolithic Active Pixel Sensor to ionizing radiation
    Darwish, H. ; Andary, J. ; et al.
    In: ISSN: 1748-0221 ; Journal of Instrumentation ; https://hal.science/hal-04152857 ; Journal of Instrumentation, 2023, 18 (06), pp.C06013. ⟨10.1088/1748-0221/18/06/C06013⟩, 2023
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Tolerance of the MIMOSIS-1 CMOS Monolithic Active Pixel Sensor to ionizing radiation
    Darwish, H. ; Andary, J. ; et al.
    In: ISSN: 1748-0221 ; Journal of Instrumentation ; https://hal.science/hal-04152857 ; Journal of Instrumentation, 2023, 18 (06), pp.C06013. ⟨10.1088/1748-0221/18/06/C06013⟩, 2023
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Tolerance of the MIMOSIS-1 CMOS Monolithic Active Pixel Sensor to ionizing radiation
    Darwish, H. ; Andary, J. ; et al.
    In: ISSN: 1748-0221 ; Journal of Instrumentation ; https://hal.science/hal-04152857 ; Journal of Instrumentation, 2023, 18 (06), pp.C06013. ⟨10.1088/1748-0221/18/06/C06013⟩, 2023
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Tolerance of the MIMOSIS-1 CMOS Monolithic Active Pixel Sensor to ionizing radiation
    Darwish, H. ; Andary, J. ; et al.
    In: ISSN: 1748-0221 ; Journal of Instrumentation ; https://hal.science/hal-04152857 ; Journal of Instrumentation, 2023, 18 (06), pp.C06013. ⟨10.1088/1748-0221/18/06/C06013⟩, 2023
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    CMOS design of a capacitively isolated AC switch driver for auto-turning frequency
    Zhang, M ; Llaser, N ; et al.
    In: ISSN: 0957-0233, 2023
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    CMOS-compatible manufacturability of sub-15 nm Si/SiO$_2$/Si nanopillars containing single Si nanodots for single electron transistor applications
    von Borany, Johannes ; Engelmann, Hans-Juergen ; et al.
    In: ISSN: 0268-1242, 2023
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    CMOS-compatible manufacturability of sub-15 nm Si/SiO$_2$/Si nanopillars containing single Si nanodots for single electron transistor applications
    von Borany, Johannes ; Engelmann, Hans-Juergen ; et al.
    In: ISSN: 0268-1242, 2023
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Design optimization of a Dual-Interlocked-Cell in 65 nm CMOS tolerant to Single Event Upsets
    Márquez, F ; Palomo, F.R ; et al.
    In: EISSN: 1748-0221 ; Journal of Instrumentation ; https://hal.science/hal-04260530 ; Journal of Instrumentation, 2023, 18 (10), pp.P10023. ⟨10.1088/1748-0221/18/10/P10023⟩, 2023
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Single donor electronics and quantum functionalities with advanced CMOS technology
    Jehl, Xavier ; Niquet, Yann-Michel ; et al.
    In: ISSN: 0953-8984 ; EISSN: 1361-648X, 2016
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Comparison of CCD, CMOS and Hybrid Pixel x-ray detectors: detection principle and data quality
    Alle, Paul ; Wenger, Emmanuel ; et al.
    In: ISSN: 0031-8949, 2016
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Comparison of CCD, CMOS and Hybrid Pixel x-ray detectors: detection principle and data quality
    Alle, Paul ; Wenger, Emmanuel ; et al.
    In: ISSN: 0031-8949, 2016
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Radiation hard DMAPS pixel sensors in 150 nm CMOS technology for operation at LHC
    Barbero, M. ; Barrillon, Pierre ; et al.
    In: EISSN: 1748-0221 ; Journal of Instrumentation ; https://hal.science/hal-02371638 ; Journal of Instrumentation, 2020, 15 (05), pp.05. ⟨10.1088/1748-0221/15/05/P05013⟩, 2020
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Radiation hard DMAPS pixel sensors in 150 nm CMOS technology for operation at LHC
    Barbero, M. ; Barrillon, Pierre ; et al.
    In: EISSN: 1748-0221 ; Journal of Instrumentation ; https://hal.science/hal-02371638 ; Journal of Instrumentation, 2020, 15 (05), pp.05. ⟨10.1088/1748-0221/15/05/P05013⟩, 2020
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Radiation hard DMAPS pixel sensors in 150 nm CMOS technology for operation at LHC
    Barbero, M. ; Barrillon, Pierre ; et al.
    In: EISSN: 1748-0221 ; Journal of Instrumentation ; https://hal.science/hal-02371638 ; Journal of Instrumentation, 2020, 15 (05), pp.05. ⟨10.1088/1748-0221/15/05/P05013⟩, 2020
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Radiation hard DMAPS pixel sensors in 150 nm CMOS technology for operation at LHC
    Barbero, M. ; Barrillon, Pierre ; et al.
    In: ISSN: 1748-0221 ; Journal of Instrumentation ; https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02371638 ; Journal of Instrumentation, IOP Publishing, 2020, 15 (05), pp.05. ⟨10.1088/1748-0221/15/05/P05013⟩, 2020
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    CACTUS: A depleted monolithic active timing sensor using a CMOS radiation hard technology
    Degerli, Y. ; Guilloux, F. ; et al.
    In: EISSN: 1748-0221 ; Journal of Instrumentation ; https://hal.science/hal-02518094 ; Journal of Instrumentation, 2020, 15 (06), pp.P06011. ⟨10.1088/1748-0221/15/06/P06011⟩, 2020
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -