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    Sensitivity to Laser Fault Injection: CMOS FD-SOI vs. CMOS bulk
    Faber, Louis-Barthelemy ; Flottes, Marie-Lise ; et al.
    2018
    Online unknown
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    New device concepts, transistor architectures and materials for high performance and energy efficient CMOS circuits in the forthcoming era of 3D integrated circuits
    Esseni, David ; Rollo, Tommaso ; et al.
    2018
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
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    Wide modulation bandwidth terahertz detection in 130 nm CMOS technology
    Coquillat, Dominique ; Nouvel, Philippe ; et al.
    2016
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
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    Investigations of Thermomechanical Stress Induced by TSV-Middle (Through-Silicon via) in 3-D ICs by Means of CMOS Sensors and Finite-Element Method
    Komi Atchou Ewuame ; Tavernier, Clement ; et al.
    2015
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
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    Improving the ability of Bulk Built-In Current Sensors to detect Single Event Effects by using triple-well CMOS
    Rodrigo Possamai Bastos ; Potin, Olivier ; et al.
    2014
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
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    A unified analytical and scalable lumped model of RF CMOS spiral inductors based on electromagnetic effects and circuit analysis
    Rhallabi, Ahmed ; Salimy, Siamak ; et al.
    2011
    Online unknown
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    LVI detection on passive structure in advance CMOS technology: New opportunities for device analysis
    Parrassin, Thierry ; Perdu, Philippe ; et al.
    2011
    Online unknown
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    Design methods of electron beam sensitive devices in NMOS and CMOS technologies
    Micollet, D. ; Courtois, B. ; et al.
    1987
    Online unknown
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    RF characterization of the substrate coupling noise between TSV and active devices in 3D integrated circuits
    Cheramy, S. ; Leduc, P. ; et al.
    2014
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Sensitivity tuning of a bulk built-in current sensor for optimal transient-fault detection
    Giorgio Di Natale ; Potin, Olivier ; et al.
    2013
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
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    Hall effect sensors integrated in standard technology and optimized with on-chip circuitry
    Braun, F. ; Kammerer, Jean-Baptiste ; et al.
    2006
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Behaviour of TFMS and CPW line on SOI substrate versus high temperature for RF applications
    Vanhoenacker-Janvier, Danielle ; Fel, N. ; et al.
    2006
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
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    Ring oscillators yield analysis: Improving Monte Carlo models with optimized clustering methods
    Wan, Fayu ; Xu, Zhifei ; et al.
    2021
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Electrical model of an inverter body-biased structure in triple-well technology under pulsed photoelectric laser stimulation
    Dutertre, Jean-Max ; Borrel, Nicolas ; et al.
    2015
    Online unknown
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    A-RAM memory cell : concept and operation
    Rodriguez, Noel ; Cristoloveanu, Sorin ; et al.
    2010
    Online unknown
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