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    Product-representative 'at speed' test structures for CMOS characterization
    Ketchen, M.B. ; Bhushan, M.
    In: IBM Journal of Research and Development, Jg. 50 (2006-07-01), Heft 4-5, S. 451-468
    Online serialPeriodical
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    Optimizing CMOS technology for maximum performance
    Frank, D.J. ; Haensch, W. ; et al.
    In: IBM Journal of Research and Development, Jg. 50 (2006-07-01), Heft 4-5, S. 419-431
    Online serialPeriodical
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    High-performance CMOS variability in the 65-nm regime and beyond
    Bernstein, K. ; Frank, D.J. ; et al.
    In: IBM Journal of Research and Development, Jg. 50 (2006-07-01), Heft 4-5, S. 433-449
    Online serialPeriodical
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    Application of an SOI 0.12-[micro]m CMOS technology to SoCs with low-power and high-frequency circuits
    Plouchart, J. O. ; Zamdmer, N. ; et al.
    In: IBM Journal of Research and Development, Jg. 47 (2003-09-01), S. 611-629
    Online serialPeriodical
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    Foundation of rf CMOS and SiGe BiCMOS technologies
    Dunn, J.S. ; Ahlgren, D.C. ; et al.
    In: IBM Journal of Research and Development, 2003-03-01, S. 101-138
    Online serialPeriodical
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    Ultralow-voltage, minimum-energy CMOS
    Hanson, S. ; Zhai, B. ; et al.
    In: IBM Journal of Research and Development, Jg. 50 (2006-07-01), Heft 4-5, S. 469-490
    Online serialPeriodical
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    Alpha-particle-induced upsets in advanced CMOS circuits and technology
    Heidel, D.F. ; Rodbell, K.P. ; et al.
    In: IBM Journal of Research and Development, Jg. 52 (2008-05-01), Heft 3, S. 225-232
    Online serialPeriodical
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    Silicon CMOS devices beyond scaling
    Haensch, W. ; Nowak, E.J. ; et al.
    In: IBM Journal of Research and Development, Jg. 50 (2006-07-01), Heft 4-5, S. 339-361
    Online serialPeriodical
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    Design automation methodology and rf/analog modeling for rf CMOS and SiGe BiCMOS technologies
    Harame, D.L. ; Newton, K.M. ; et al.
    In: IBM Journal of Research and Development, 2003-03-01, S. 139-173
    Online serialPeriodical
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    Design methods for attaining IBM System z9 processor cycle-time goals
    Mayer, G. ; Doettling, G. ; et al.
    In: IBM Journal of Research and Development, Jg. 51 (2007), Heft 1-2, S. 19-35
    Online serialPeriodical
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    Emerging nanoscale silicon devices taking advantage of nanostructure physics
    Hiramoto, T. ; Saitoh, M. ; et al.
    In: IBM Journal of Research and Development, Jg. 50 (2006-07-01), Heft 4-5, S. 411-418
    Online serialPeriodical
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Two-level BEOL processing for rapid iteration in MRAM development
    Gaidis, M.C. ; O'Sullivan, E.J. ; et al.
    In: IBM Journal of Research and Development, Jg. 50 (2006), Heft 1, S. 41-54
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Challenges of data center thermal management
    Schmidt, R.R. ; Cruz, E.E. ; et al.
    In: IBM Journal of Research and Development, Jg. 49 (2005-09-01), S. 709-723
    Online serialPeriodical
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    Low-power circuits and technology for wireless digital systems
    Kosonocky, S.V. ; Bhavnagarwala, A.J. ; et al.
    In: IBM Journal of Research and Development, 2003-03-01, S. 283-298
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Fabrication and characterization of robust through-silicon vias for silicon-carrier applications
    Andry, P.S. ; Tsang, C.K. ; et al.
    In: IBM Journal of Research and Development, Jg. 52 (2008-11-01), Heft 6, S. 571-581
    Online serialPeriodical
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    New simulation methodology for effects of radiation in semiconductor chip structures
    Tang, H.H.K. ; Murray, C.E. ; et al.
    In: IBM Journal of Research and Development, Jg. 52 (2008-05-01), Heft 3, S. 245-253
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    SEMM-2: a new generation of single-event-effect modeling tools
    Tang, H.H.K.
    In: IBM Journal of Research and Development, Jg. 52 (2008-05-01), Heft 3, S. 233-244
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    Power-constrained high-frequency circuits for the IBM POWER6 microprocessor
    Curran, B. ; Fluhr, E. ; et al.
    In: IBM Journal of Research and Development, Jg. 51 (2007-11-01), Heft 6, S. 715-731
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    Microarchitecture and implementation of the synergistic processor in 65-nm and 90-nm SOI
    Flachs, B. ; Asano, S. ; et al.
    In: IBM Journal of Research and Development, Jg. 51 (2007-09-01), Heft 5, S. 529-543
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    Germanium channel MOSFETs: opportunities and challenges
    Shang, H. ; Frank, M.M. ; et al.
    In: IBM Journal of Research and Development, Jg. 50 (2006-07-01), Heft 4-5, S. 377-386
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