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    A Formal System of Axiomatic Set Theory in Coq
    Sun, Tianyu ; Yu, Wensheng
    In: IEEE access, Jg. 8 (2020), S. 21510-21523
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    A Hybrid Formal Verification System in Coq for Ensuring the Reliability and Security of Ethereum-Based Service Smart Contracts
    Yang, Zheng ; Lei, Hang ; et al.
    In: IEEE access, Jg. 8 (2020), S. 21411-21436
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
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    A Formal System of Axiomatic Set Theory in Coq
    Sun, Tianyu ; Yu, Wensheng
    In: IEEE access, Jg. 8 (2020), S. 21510-21523
    Online serialPeriodical
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    A Hybrid Formal Verification System in Coq for Ensuring the Reliability and Security of Ethereum-Based Service Smart Contracts
    In: IEEE access, Jg. 8 (2020), S. 21411-21436
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    A Formal System of Axiomatic Set Theory in Coq
    In: IEEE access, Jg. 8 (2020), S. 21510-21523
    Online serialPeriodical
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    Wie komme ich dran?
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    A Hybrid Formal Verification System in Coq for Ensuring the Reliability and Security of Ethereum-Based Service Smart Contracts
    In: IEEE access, Jg. 8 (2020), S. 21411-21436
    Online serialPeriodical
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    Wie komme ich dran?
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    FEther: An Extensible Definitional Interpreter for Smart-Contract Verifications in Coq
    Yang, Zheng ; Lei, Hang
    In: IEEE access, Jg. 7 (2019), S. 37770-37791
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    FEther: An Extensible Definitional Interpreter for Smart-Contract Verifications in Coq
    Yang, Zheng ; Lei, Hang
    In: IEEE access, Jg. 7 (2019), S. 37770-37791
    Online serialPeriodical
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    Wie komme ich dran?
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    Neutron-Induced Failure Dependence on Reverse Gate Voltage for SiC Power MOSFETs in Atmospheric Environment
    Niskanen, K. ; Coq Germanicus, R. ; et al.
    In: IEEE transactions on nuclear science, Jg. 68 (2021), Heft 8, S. 1623-1632
    Online serialPeriodical
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    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Radiation Hardness Assurance Through System-Level Testing: Risk Acceptance, Facility Requirements, Test Methodology, and Data Exploitation
    Coronetti, Andrea ; Alia, Ruben Garcia ; et al.
    In: IEEE transactions on nuclear science, Jg. 68 (2021), Heft 5, S. 958-969
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    A Circularly Polarized Sub-Terahertz Antenna With Low-Profile and High-Gain for 6G Wireless Communication Systems
    Aqlan, Basem ; Himdi, Mohamed ; et al.
    In: IEEE access, Jg. 9 (2021), S. 122607-122617
    Online serialPeriodical
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Neutron-Induced Failure Dependence on Reverse Gate Voltage for SiC Power MOSFETs in Atmospheric Environment
    Niskanen, K. ; Coq Germanicus, R. ; et al.
    In: IEEE transactions on nuclear science, Jg. 68 (2021), Heft 8, S. 1623-1632
    Online serialPeriodical
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    Radiation Hardness Assurance Through System-Level Testing: Risk Acceptance, Facility Requirements, Test Methodology, and Data Exploitation
    Coronetti, Andrea ; Alia, Ruben Garcia ; et al.
    In: IEEE transactions on nuclear science, Jg. 68 (2021), Heft 5, S. 958-969
    Online serialPeriodical
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    Radiation Hardness Assurance Through System-Level Testing: Risk Acceptance, Facility Requirements, Test Methodology, and Data Exploitation
    Coronetti, Andrea ; Alia, Ruben Garcia ; et al.
    In: IEEE transactions on nuclear science, Jg. 68 (2021), Heft 5, S. 958-969
    Online serialPeriodical
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    Radiation Hardness Assurance Through System-Level Testing: Risk Acceptance, Facility Requirements, Test Methodology, and Data Exploitation
    Coronetti, Andrea ; Alia, Ruben Garcia ; et al.
    In: IEEE transactions on nuclear science, Jg. 68 (2021), Heft 5, S. 958-969
    Online serialPeriodical
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Sub-THz Circularly Polarized Horn Antenna Using Wire Electrical Discharge Machining for 6G Wireless Communications
    Aqlan, Basem ; Himdi, Mohamed ; et al.
    In: IEEE access, Jg. 8 (2020), S. 117245-117252
    Online serialPeriodical
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Impact of Electrical Stress and Neutron Irradiation on Reliability of Silicon Carbide Power MOSFET
    Niskanen, K. ; Touboul, A. D. ; et al.
    In: IEEE transactions on nuclear science, Jg. 67 (2020), Heft 7, S. 1365-1373
    Online serialPeriodical
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    Volltext
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Sub-THz Circularly Polarized Horn Antenna Using Wire Electrical Discharge Machining for 6G Wireless Communications
    Aqlan, Basem ; Himdi, Mohamed ; et al.
    In: IEEE access, Jg. 8 (2020), S. 117245-117252
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Miniaturized C-Band SIW Filters Using High-Permittivity Ceramic Substrates
    Le Coq, M. ; Rius, E. ; et al.
    In: IEEE TRANSACTIONS ON COMPONENTS PACKAGING AND MANUFACTURING TECHNOLOGY, Jg. 5 (2015), Heft 5, S. 620-626
    Online serialPeriodical
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    Volltext
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    Wideband and High Efficient Aperture Antenna with Superstrate for 60 GHz Indoor Communication systems
    Vettikalladi, H. ; Le Coq, L. ; et al.
    In: IEEE ANTENNAS AND PROPAGATION SOCIETY INTERNATIONAL SYMPOSIUM, 2010, Heft 1, S. 389-392
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
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