Zum Hauptinhalt springen
UB Hagen

Suchergebnisse

UB Katalog

Artikel & mehr
50.366 Treffer

Suchmaske

Suchtipp für den Bereich Artikel & mehr: Wörter werden automatisch mit UND verknüpft. Eine ODER-Verknüpfung erreicht man mit dem Zeichen "|", eine NICHT-Verknüpfung mit einem "-" (Minus) vor einem Wort. Anführungszeichen ermöglichen eine Phrasensuche.
Beispiele: (burg | schloss) -mittelalter, "berufliche bildung"

Das folgende Suchfeld wird hier nicht unterstützt: "Signatur / Strichcode".

Suchergebnisse einschränken oder erweitern

Aktive Suchfilter

Erscheinungszeitraum

Mehr Treffer

Weniger Treffer

Gefunden in

Art der Quelle

Schlagwort

Publikation

Sprache

Geographischer Bezug

50.366 Treffer

Sortierung: 
  1. Detailansicht für Treffer 1 öffnen
    Watermark Detection in CMOS Image Sensors Using Cosine-Convolutional Semantic Networks.
    Solorzano, Carlos ; Tsai, Du-Ming
    In: IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, Jg. 36 (2023-05-01), Heft 2, S. 279-290
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    Cryogenic CMOS Design for Qubit Control: Present Status, Challenges, and Future Directions [Feature].
    Chakraborty, Sudipto ; Joshi, Rajiv V.
    In: IEEE Circuits & Systems Magazine, Jg. 24 (2024-04-01), Heft 2, S. 34-46
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Design and Experimentation of Inductorless Low-Pass NGD Integrated Circuit in 180-nm CMOS Technology.
    Wan, Fayu ; Gu, Taochen ; et al.
    In: IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits & Systems, Jg. 41 (2022-11-01), Heft 11, S. 4965-4974
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Optimization of Photodiode Design Through Analysis of Full-Well Capacity and Image Lag in 0.5 μ m CMOS Image Sensors With Vertical Transfer Gates.
    Park, Jae Hyeon ; Suk, Chan Hee ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 43 (2022-10-01), Heft 10, S. 1697-1700
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    A Reconfigurable Convolution-in-Pixel CMOS Image Sensor Architecture.
    Song, Ruibing ; Huang, Kejie ; et al.
    In: IEEE Transactions on Circuits & Systems for Video Technology, Jg. 32 (2022-10-01), Heft 10, S. 7212-7225
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    A 30.2-µ Vrms Horizontal Streak Noise 8.3-Mpixel 60-Frames/s CMOS Image Sensor With Skew-Relaxation ADC and On-Chip Testable Ramp Generator for Surveillance Camera.
    Morishita, Fukashi ; Saito, Wataru ; et al.
    In: IEEE Journal of Solid-State Circuits, Jg. 57 (2022-10-01), Heft 10, S. 3103-3113
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    A New Pathway Toward Implementing a Fully Integrated Band-Switchable CMOS Power Amplifier Utilizing Bit Optimized Reconfigurable Network (BORN).
    Hamidi, Seyyed Babak ; Dawn, Debasis
    In: IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, Jg. 30 (2022-09-01), Heft 9, S. 1294-1305
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    A Wide Spectral Response Single Photon Avalanche Diode for Backside-Illumination in 55-nm CMOS Process.
    Liu, Yang ; Liu, Maliang ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 69 (2022-09-01), Heft 9, S. 5041-5047
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Probing Dark Current Random Telegraph Signal in a Small Pitch Vertically Pinned Photodiode CMOS Image Sensor After Proton Irradiation.
    Antonsanti, Aubin ; Virmontois, Cedric ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 69 (2022-07-01), Heft 7, S. 1506-1514
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Radiation Monitor Extension for CMOS Imaging Instruments in Nanosatellites.
    Florczak, Josua ; Neubert, Tom ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 69 (2022-07-01), Heft 7, S. 1651-1658
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    A Low-Power Column-Parallel ΣΔ ADC With Shared OTAs and Single-Bit-BWI Decimation Filter for CMOS Image Sensor.
    Wang, Zhongjie ; Ma, Qiyun ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 69 (2022-06-01), Heft 6, S. 2979-2985
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    HDR CMOS Image Sensors for Automotive Applications.
    Takayanagi, Isao ; Kuroda, Rihito
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 69 (2022-06-01), Heft 6, S. 2815-2823
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    A 30-fps 192 × 192 CMOS Image Sensor With Per-Frame Spatial-Temporal Coded Exposure for Compressive Focal-Stack Depth Sensing.
    Luo, Yi ; Mirabbasi, Shahriar
    In: IEEE Journal of Solid-State Circuits, Jg. 57 (2022-06-01), Heft 6, S. 1661-1672
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    A Low-Power Indirect Time-of-Flight CMOS Image Sensor With Fixed Depth Noise Compensation and Dual-Mode Imaging for Depth Dynamic Range Enhancement.
    Piao, Canxing ; Ahn, Yeonsoo ; et al.
    In: IEEE Transactions on Circuits & Systems. Part I: Regular Papers, Jg. 69 (2022-10-01), Heft 10, S. 3989-3999
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Hybrid Pixels With Si Photodiode and 4H-SiC MOSFETs Using Direct Heterogeneous Bonding Toward Radiation Hardened CMOS Image Sensors.
    Meguro, Tatsuya ; Takeyama, Akinori ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 43 (2022-10-01), Heft 10, S. 1713-1716
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Time Domain Noise Analysis of Oversampled CMOS Image Sensors.
    Suess, Andreas ; Wilhelmsen, Mathias ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 69 (2022-06-01), Heft 6, S. 2973-2978
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    A 70-dB SNR High-Speed Global Shutter CMOS Image Sensor for in Situ Fluid Concentration Distribution Measurements.
    Oikawa, Tetsu ; Kuroda, Rihito ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 69 (2022-06-01), Heft 6, S. 2965-2972
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    A Review of 3-Dimensional Wafer Level Stacked Backside Illuminated CMOS Image Sensor Process Technologies.
    Wuu, Shou-Gwo ; Chen, Hsin-Li ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 69 (2022-06-01), Heft 6, S. 2766-2778
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Signal-to-Noise Ratio Enhancement in Cardiac Pulse Measurements Using Multitap CMOS Image Sensors With In-Pixel Temporal Redundant Samplings.
    Cao, Chen ; Hakamata, Masashi ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 69 (2022-06-01), Heft 6, S. 2851-2857
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Displacement Damage Effects in Backside Illuminated CMOS Image Sensors.
    Liu, Bingkai ; Li, Yudong ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 69 (2022-06-01), Heft 6, S. 2907-2914
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -