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    Experimental validation of an analog spiking neural network with STDP learning rule in CMOS technology
    Polidori, Elisabetta ; Camisa, Giovanni ; et al.
    In: 2022 IEEE International Conference on Metrology for Extended Reality, Artificial Intelligence and Neural Engineering (MetroXRAINE), 2022-10-28, S. 187-192
    Online Konferenz
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    Optical absorption sensing with dual-spectrum silicon LEDs in SOI-CMOS technology
    Dutta, S. ; Steeneken, P.G. ; et al.
    In: Proceedings IEEE Sensors, SENSORS 2020, 2020
    Konferenz
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    A 1-to-4GHz Multi-Mode Digital Transmitter in 40nm CMOS Supporting 200MHz 1024-QAM OFDM signals with more than 23dBm/66% Peak Power/Drain Efficiency
    Beikmirza, M.R. ; Shen, Y. ; et al.
    In: 2022 IEEE Custom Integrated Circuits Conference, CICC, 2022
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    The influence of no fault found in analogue CMOS circuits
    Wan, J. ; Kerkhoff, Hans G.
    In: 2014 International Mixed-Signals, Sensors and Systems Test Workshop (IMS3TW'14), 2014-09-19, S. 1-6
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
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    Cryogenic CMOS for Qubit Control and Readout
    Pellerano, Stefano ; Subramanian, Sushil ; et al.
    In: 2022 IEEE Custom Integrated Circuits Conference, CICC 2022 - Proceedings, 2022
    Konferenz
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  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Wideband Single Pixel Radiometer in CMOS
    van Berkel, S.L. ; Malotaux, E.S. ; et al.
    In: 42nd International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves, IRMMW-THz 2017, 2017
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    A Versatile and Efficient 0.1-to-11 Gb/s CML Transmitter in 40-nm CMOS
    Feng, Y.J. ; Beikmirza, M.R. ; et al.
    In: 2021 18th International SoC Design Conference (ISOCC), 2021
    Konferenz
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  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Frequency-Tunable antenna by input-impedance-tunable CMOS RF-Frontend
    Haider, Nadia ; Oude Alink, Mark S. ; et al.
    In: European Microwave Intergrated Circuits Conference, EuMIC 2013, 2013-10-06, S. 308-311
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Optimized Stage Ratio of Tapered CMOS Inverters for Minimum Power and Mismatch Jitter Product
    Dutta, R. ; Bhattacharyya, T.K. ; et al.
    In: 23th International Conference on VLSI Design, VLSID 2010, 2010-01-06, S. 152-157
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
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  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    A 0.45pJ/conv-step 1.2Gs/s 6b full-Nyquist non-calibrated flash ADC in 45nm CMOS and its scaling behavior
    Veldhorst, P. ; Goksun, George ; et al.
    In: Proceedings of the ESSCIRC 2009, 2009-09-14, S. 464-467
    Online Konferenz
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    Volltext
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  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    A Tunable 300-800MHz RF-Sampling Receiver Achieving 60dB Harmonic Rejection and 0.8dB Minimum NF in 65nm CMOS
    Ru, Z. ; Klumperink, Eric A.M. ; et al.
    In: Proceedings of the Radio Frequency Integrated Circuits Symposium, 2009. RFIC, 2009-06-08, S. 21-24
    Online Konferenz
    Zugriff:
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Design of an efficient 900 GHz antenna in standard CMOS technology for imaging arrays
    Perenzoni, M. ; Cavallo, D. ; et al.
    In: Proceedings of the 9th European Conference on Antennas and Propagation, EuCAP 2015, 2015
    Konferenz
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    A wideband Noise-Canceling CMOS LNA exploiting a transformer
    Blaakmeer, S.C. ; Klumperink, Eric A.M. ; et al.
    In: Digest of papers of the 2006 IEEE Radio Frequency Integrated Circuits, 2006-06-12, S. 137-140
    Online Konferenz
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Record RF performance of standard 90 nm CMOS technology
    Tiemeijer, L.F. ; Havens, R.J. ; et al.
    In: IEEE International Electron Devices Meeting 2004, 2005-04-25, S. 441-444
    Online Konferenz
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Gate oxide reliability and deuterated CMOS processing
    Hof, A.J. ; Kovalgin, A. ; et al.
    In: IEEE Integrated Reliability Workshop 2004, 2004-04-25, S. 7-10
    Online Konferenz
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    A 16MHz CMOS RC Frequency Reference with ±400ppm Inaccuracy from -45°C to 85°C after Digital Linear Temperature Compensation
    Gürleyük, C. ; Pan, S. ; et al.
    In: 2020 IEEE International Solid-State Circuits Conference, ISSCC, 2020
    Konferenz
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    A CMOS Resistor-Based Temperature Sensor with a 10fJ·K2 Resolution FoM and 0.4°C (30) Inaccuracy from -55°C to 125°C after a 1-point Trim
    Pan, S. ; Makinwa, K.A.A.
    In: 2020 IEEE International Solid-State Circuits Conference, ISSCC, 2020
    Konferenz
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    A wideband IM3 cancellation technique for CMOS attenuators
    Cheng, W. ; Oude Alink, M.S. ; et al.
    In: IEEE International Solid-State Circuits Conference Digest of Technical Papers (ISSCC 2012), 2012-02-20, S. 78-80
    Online Konferenz
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    A 20dBm outphasing class E PA with high efficiency at power back-off in 65nm CMOS technology
    Ghahremani, Ali ; Annema, Anne J. ; et al.
    In: 2017 IEEE Radio Frequency Integrated Circuits Symposium (RFIC), 2017-06-06, S. 340-343
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    A Wafer-Scale Process for the Monolithic Integration of CVD Graphene and CMOS Logic for Smart MEMS/NEMS Sensors
    Romijn, J. ; Vollebregt, S. ; et al.
    In: 2019 IEEE 32nd International Conference on Micro Electro Mechanical Systems (MEMS), 2019
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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