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    A Cost-Effective Ku -Band Phased Array in Package Integrating Multi-Independent CMOS Transceivers With On-Chip Antennas
    Zhang, Qingfeng ; Zhao, Chenxi ; et al.
    In: IEEE Microwave and Wireless Technology Letters, Jg. 33 (2023), Heft 10, S. 1486-1489
    Online serialPeriodical
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    Spread-Spectrum Modulated Multi-Channel Biosignal Acquisition Using a Shared Analog CMOS Front-End
    Rout, Samprajani ; Monna, Bert ; et al.
    In: IEEE transactions on biomedical circuits and systems, Jg. 17 (2023), Heft 4, S. 872-884
    Online serialPeriodical
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    A Low-Power Hybrid-Precision Neuromorphic Processor With INT8 Inference and INT16 Online Learning in 40-nm CMOS
    Liu, Congyang ; Yang, Ziyi ; et al.
    In: IEEE transactions on circuits and systems.I.Regular papers, Jg. 70 (2023), Heft 10, S. 4028-4039
    Online serialPeriodical
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  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    A 2.85-mm 2 Wideband RF Transceiver in 40-nm CMOS for IoT Micro-Hub Applications
    Wang, Dong ; Liu, Zexue ; et al.
    In: IEEE transactions on circuits and systems.I.Regular papers, Jg. 70 (2023), Heft 10, S. 3930-3943
    Online serialPeriodical
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  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    CMOS 16FF Digital Power Amplifier RF Reliability Characterization
    Zohar, L. ; Shternberg, I. ; et al.
    In: IEEE solid-state circuits letters, Jg. 6 (2023), S. 253-256
    Online serialPeriodical
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    A CMOS Microwave Phase-Shifter With High IP1dB Employing Novel Folded VGA
    Singhal, Naina ; Hasan, S. M. Rezaul
    In: IEEE Microwave and Wireless Technology Letters, Jg. 33 (2023), Heft 10, S. 1478-1481
    Online serialPeriodical
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    Study of Proton-Induced Defects in 40-nm CMOS SPADs
    Jouni, Ali ; Malherbe, Victor ; et al.
    In: IEEE transactions on nuclear science, Jg. 70 (2023), Heft 8, S. 1680-1686
    Online serialPeriodical
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    A 7-bit 3.8-GS/s 2-Way Time-Interleaved 4-bit/Cycle SAR ADC 16× Time-Domain Interpolation in 28-nm CMOS
    Li, Dengquan ; Zhao, Xin ; et al.
    In: IEEE transactions on circuits and systems.I.Regular papers, Jg. 70 (2023), Heft 9, S. 3557-3566
    Online serialPeriodical
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    Polyomino: A 3D-SRAM-Centric Accelerator for Randomly Pruned Matrix Multiplication With Simple Reordering Algorithm and Efficient Compression Format in 180-nm CMOS
    Shiba, Kota ; Okada, Mitsuji ; et al.
    In: IEEE transactions on circuits and systems.I.Regular papers, Jg. 70 (2023), Heft 9, S. 3440-3450
    Online serialPeriodical
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  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Fully Integrated Constant Fraction Discriminators (CFDs): Two Implementations in Submicrometer CMOS Technologies
    Garbolino, Sara ; Martoiu, Sorin ; et al.
    In: IEEE transactions on nuclear science, Jg. 70 (2023), Heft 9, S. 2218-2225
    Online serialPeriodical
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  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    A Compact Front-End Circuit for a Monolithic Sensor in a 65-nm CMOS Imaging Technology
    Piro, F. ; Rinella, G. Aglieri ; et al.
    In: IEEE transactions on nuclear science, Jg. 70 (2023), Heft 9, S. 2191-2200
    Online serialPeriodical
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    A Cryo-CMOS Homodyne-Demodulation Qubit Readout IC With Continuous-Time Analog Integration for SNR Improvement
    Minn, Donggyu ; Kang, Kiseo ; et al.
    In: IEEE solid-state circuits letters, Jg. 6 (2023), S. 241-244
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Signal-Strength Detector Based on CMOS-Inverter Supply Current
    Kumar, Pranav ; Krishnapura, Nagendra
    In: IEEE solid-state circuits letters, Jg. 6 (2023), S. 237-240
    Online serialPeriodical
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Fully Integrated Efficient and Wideband Distributed Amplifier Employing Dual-Feed Output Stage With Active Input Split-Stage in 0.13 μm CMOS
    Tarar, Mohsin M. ; Qayyum, Saad ; et al.
    In: IEEE access, Jg. 11 (2023), S. 95813-95824
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    A Fully-Digital Variation-Tolerant Runtime Detector for PCB-Level Probing Attack in a 28-nm CMOS
    Li, Mao ; Yang, Yunze ; et al.
    In: IEEE solid-state circuits letters, Jg. 6 (2023), S. 245-248
    Online serialPeriodical
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Modeling Analysis of BTI-Driven Degradation of a Ring Oscillator Designed in a 28-nm CMOS Technology
    Sangani, D. ; Diaz-Fortuny, J. ; et al.
    In: IEEE transactions on device and materials reliability, Jg. 23 (2023), Heft 3, S. 346-354
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    TFET-Based Pixel Source Follower of CMOS Image Sensor for Improved Linearity and High Signal-to-Noise Ratio
    Lee, Haewon ; Yun, Ilgu
    In: IEEE sensors journal, Jg. 23 (2023), Heft 17, S. 19239-19244
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    CMOS Image Sensor With Micro–Nano Holes to Improve NIR Optical Efficiency: Holes on Top Surface Versus on Bottom
    Devine, Ekaterina Ponizovskaya ; Ahamed, Ahasan ; et al.
    In: IEEE sensors journal, Jg. 23 (2023), Heft 17, S. 19256-19261
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    A 31–46 GHz Dual-Core Class-C VCO Using Switchable Transformers in 28-nm CMOS
    Lv, Jingjing ; Du, Li ; et al.
    In: IEEE Microwave and Wireless Technology Letters, Jg. 33 (2023), Heft 9, S. 1341-1344
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    A Wideband Low-Loss CMOS Attenuator With dB-Linear Gain Tuning for W-Band Applications
    Gu, Peng ; Zhao, Dixian ; et al.
    In: IEEE transactions on circuits and systems.II.Express briefs, Jg. 70 (2023), Heft 9, S. 3308-3312
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