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    Layout dependent BTI and HCI degradation in nano CMOS technology: A new time-dependent LDE and impacts on circuit at end of life
    Huang, Ru ; Wang, Runsheng ; et al.
    In: 2016 International Conference on IC Design and Technology (ICICDT), 2016-06-01
    Online unknown
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    Cascode configuration as a substitute to LDE MOSFET for improved electrical mismatch performance
    Rosa, Julien ; Bajolet, A. ; et al.
    In: 2014 International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS), 2014-03-01
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
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    General Formula to Capture the Impact of Dummy Gates on Layout Dependent Effects Modeling of Multi-finger MOSFETs
    Zhang, Qilin ; Chao, Lei ; et al.
    In: 2020 4th IEEE Electron Devices Technology & Manufacturing Conference (EDTM), 2020-04-01
    Online unknown
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    Test structures for debugging variation of critical devices caused by layout-dependent effects in FinFETs
    Pan, Hans ; Lin, Qi ; et al.
    In: 2018 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS), 2018-03-01
    Online unknown
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    Comparison of two novel-strategies to obtain sub-pitch resolution in ultrasound elastography
    Thittai, Arun K. ; Sathiyamoorthy, S
    In: 2017 IEEE 14th International Symposium on Biomedical Imaging (ISBI 2017), 2017-04-01
    Online unknown
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  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Layout Dependent Effect: Impact on device performance and reliability in recent CMOS nodes
    Bertholon, R. ; Bravaix, Alain ; et al.
    In: 2016 IEEE International Integrated Reliability Workshop (IIRW), 2016
    Online unknown
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  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    End-to-end Code-switched TTS with Mix of Monolingual Recordings
    Meng, Helen ; Wu, Zhiyong ; et al.
    In: ICASSP 2019 - 2019 IEEE International Conference on Acoustics, Speech and Signal Processing (ICASSP), 2019-05-01
    Online unknown
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  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    An 8 bits 2GS/s ADC in 180 nm CMOS process for healthcare multichannel instruments
    Puech, Gabriel
    In: 2017 24th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (ICECS), 2017-12-01
    Online unknown
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