Zum Hauptinhalt springen

Suchergebnisse

UB Katalog
Ermittle Trefferzahl…

Artikel & mehr
74 Treffer

Suchmaske

Suchtipp für den Bereich Artikel & mehr: Wörter werden automatisch mit UND verknüpft. Eine ODER-Verknüpfung erreicht man mit dem Zeichen "|", eine NICHT-Verknüpfung mit einem "-" (Minus) vor einem Wort. Anführungszeichen ermöglichen eine Phrasensuche.
Beispiele: (burg | schloss) -mittelalter, "berufliche bildung"

Das folgende Suchfeld wird hier nicht unterstützt: "Signatur / Strichcode".

Suchergebnisse einschränken oder erweitern

Erscheinungszeitraum

Mehr Treffer

Weniger Treffer

Gefunden in

Schlagwort

Publikation

Sprache

74 Treffer

Sortierung: 
  1. Salvador Pinillos Gimenez ; Renaux, Christian ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 9 (2021), S. 415-423
    Online unknown
  2. Xu, Jiangtao ; Gao, Zhiyuan ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 9 (2021), S. 27-35
    Online unknown
  3. Bothra, Vishishtha ; Lim, Yong ; et al.
    In: IEEE Journal on Exploratory Solid-State Computational Devices and Circuits, Jg. 6 (2020), Heft 1, S. 36-44
    Online unknown
  4. Zappa, Franco ; Tosi, Alberto ; et al.
    In: IEEE Photonics Journal, Jg. 12 (2020), Heft 5, S. 1-12
    Online unknown
  5. Sallese, Jean-Michel ; Rossi, Chiara
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 8 (2020), S. 376-384
    Online unknown
  6. Nyssens, Lucas ; Planes, Nicolas ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 8 (2020), S. 646-654
    Online unknown
  7. Mizukami, Ryutatsu ; Hanafusa, Hiroaki ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 7 (2019), S. 943-948
    Online unknown
  8. Caimi, Daniele ; Sousa, Marilyne ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 7 (2019), S. 1170-1174
    Online unknown
  9. Chih-Lin, Lee ; Wu, Thomas ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 7 (2019), S. 227-238
    Online unknown
  10. Luo, G.-L. ; Hong, T.-C. ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 6 (2018), S. 1227-1232
    Online unknown
  11. Huang, Peng ; Zhang, Xing ; et al.
    In: 2019 IEEE 26th International Symposium on Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), 2019-07-01
    Online unknown
  12. Mori, Takayuki ; Ida, Jiro
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 6 (2018), S. 1213-1219
    Online unknown
  13. Sueoka, Koji ; Hirose, Ryo ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 6 (2018), S. 1200-1206
    Online unknown
  14. Chou, Kuo-Yu ; Hsueh, Fu-Lung ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 5 (2017), Heft 1, S. 79-89
    Online unknown
  15. Mitard, Jerome ; Veloso, Anabela ; et al.
    In: 2018 48th European Solid-State Device Research Conference (ESSDERC), 2018-09-01
    Online unknown
  16. Riello, Pietro ; Cattaruzza, Elti ; et al.
    In: 2018 IEEE 18th International Conference on Nanotechnology (IEEE-NANO), 2018-07-01
    Online unknown
  17. Pan, Chenyun ; Naeemi, Azad
    In: IEEE Journal on Exploratory Solid-State Computational Devices and Circuits, Jg. 2 (2016), S. 36-43
    Online unknown
  18. Marco Van Uffelen ; Rolando, Sébastien ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, 2017
    Online unknown
  19. Jang, Doyoung ; Mocuta, Anda ; et al.
    In: 2017 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2017-12-01
    Online unknown
  20. Marcello De Matteis ; Baschirotto, Andrea ; et al.
    In: 2017 7th IEEE International Workshop on Advances in Sensors and Interfaces (IWASI), 2017-06-01
    Online unknown
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -