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    CMOS FD-SOI Technologies Ruggedness for Millimeter Wave Power Amplifier Design
    Martineau, Baudouin ; Bossuet, Alice ; et al.
    In: 2022 29th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (ICECS) ; https://cea.hal.science/cea-04177383 ; 2022 29th IEEE International Conference on Electronics, 2022
    Online Konferenz
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    Self-Timed Ring Oscillator Based Time-to-Digital Converter: a 0.35μm CMOS Proof-of-Concept Prototype
    El Hadbi, Assia ; Elissati, Oussama ; et al.
    In: IEEE International Instrumentation & Measurement Technology Conference (I2MTC 2021) ; https://hal.science/hal-03352864 ; IEEE International Instrumentation & Measurement Technology Conference (I2MTC 2021), May 2021, Glasgow, United Kingdom. ⟨10.1109/I2MTC50364.2021.9460031⟩ ; IEEELink, 2021
    Online Konferenz
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    Volltext
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    Synchronous conditioning circuits for piezo-and triboelectric harvesters in CMOS technologieś
    Lefeuvre, Elie ; Galayko, Dimitri ; et al.
    In: 2020 27th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (ICECS) ; https://hal.science/hal-03158528 ; 2020 27th IEEE International Conference on Electronics, 2020
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
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    A 24-31GHz 28nm FD-SOI CMOS Power Amplifier Supporting 5G NR FR2 64-QAM Signals ; Un amplificateur de puissance CMOS FD-SOI 24-31GHz 28nm prenant en charge les signaux 5G NR FR2 64-QAM
    Diverrez, Gwennael ; Kerherve, Eric ; et al.
    In: ICECS 2022 Conference Proceedings ; https://hal.science/hal-03999380 ; ICECS 2022 Conference Proceedings, Oct 2022, Glasgow, United Kingdom, 2022
    Konferenz
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    Integrated Variability Measurements of 28 nm FDSOI MOSFETs down to 4.2 K for Cryogenic CMOS Applications
    Paz, Bruna Cardoso ; Guevel, Loick Le ; et al.
    In: 2020 IEEE 33rd International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS) ; https://hal.science/hal-02986756 ; 2020 IEEE 33rd International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS), May 2020, Edinburgh, United Kingdom. ⟨10.1109/ICMTS48187.2020.9107906⟩, 2020
    Konferenz
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    A CMOS readout circuit for a low shunt resistance IR photo-detector
    Fatima, Saman ; Avignon-Meseldzija, Emilie ; et al.
    In: 2020 27th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (ICECS) ; https://centralesupelec.hal.science/hal-03326284 ; 2020 27th IEEE International Conference on Electronics, 2020
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Pixel circuit design for an accumulation mode BDJ APS in a 0.18µm CMOS technology
    Azzem, Oussama Moudda ; Chouikha, Mohamed Ben ; et al.
    In: 2020 27th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (ICECS) ; https://centralesupelec.hal.science/hal-03326283 ; 2020 27th IEEE International Conference on Electronics, 2020
    Konferenz
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  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Design and modeling of heterogeneous semi-active wake-up radio for sensor network applications
    Ding, Ruochen ; Tatinian, William ; et al.
    In: Newcas 2023 ; https://hal.science/hal-04141903 ; Newcas 2023, Jun 2023, Edimbourgh, United Kingdom. pp.4, ⟨10.1109/NEWCAS57931.2023.10198047⟩ ; https://ieeexplore.ieee.org/document/10198047, 2023
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    A 5-DC-parameter MOSFET model for circuit simulation in QucsStudio and SPECTRE
    Alves Neto, Deni Germano ; Missel Adotnes, Cristina ; et al.
    In: 2023 21st IEEE Interregional NEWCAS Conference (NEWCAS) ; 21st IEEE Interregional NEWCAS Conference (NEWCAS 2023) ; https://hal.science/hal-04188231 ; 21st IEEE Interregional NEWCAS Conference (NEWCAS 2023), Jun 2023, Edinburgh, United Kingdom. ⟨10.1109/NEWCAS57931.2023.10198173⟩, 2023
    Online Konferenz
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    Volltext
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  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Influence of series resistance on the experimental extraction of FinFET noise parameters
    Tataridou, Angeliki ; Ghibaudo, Gérard ; et al.
    In: 2020 IEEE 33rd International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS) ; https://hal.science/hal-02969736 ; 2020 IEEE 33rd International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS), May 2020, Edinburgh, United Kingdom. pp.1-4, ⟨10.1109/ICMTS48187.2020.9107908⟩, 2020
    Online Konferenz
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    Low-Power Event-Driven Spectrogram Extractor for Multiple Keyword Spotting: A proof of concept
    Mourrane, Soufiane ; Larras, Benoit ; et al.
    In: 2023 21st IEEE Interregional NEWCAS Conference (NEWCAS) ; https://hal.science/hal-04195047 ; 2023 21st IEEE Interregional NEWCAS Conference (NEWCAS), Jun 2023, Edinburgh, United Kingdom. pp.1-5, ⟨10.1109/NEWCAS57931.2023.10198120⟩, 2023
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    news brief.
    In: IEEE Spectrum, Jg. 45 (2008-05-01), Heft 5, S. 13-13
    Online serialPeriodical
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    Volltext
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    Analysis of Short-Term NBTI Effect on the Single-Event Upset Sensitivity of a 65nm SRAM using Two-Photon Absorption
    Issam, El Moukthari ; Pouget, Vincent ; et al.
    In: Proceedings of the 14th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems ; 14th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems ; https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01091193 ; 14th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems, Sep 2013, Oxford, United Kingdom. pp.1-6, ⟨10.1109/RADECS.2013.6937408⟩, 2013
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    Solutions of DC-DC converters for G-class audio amplifiers in mobile platforms
    Branca, Xavier ; Allard, Bruno ; et al.
    In: Proceedings of the IEEE 14th European Conference on Power Electronics and Applications ; EPE ; https://hal.science/hal-00705554 ; EPE, Aug 2011, Birmingham, United Kingdom. pp.CD, 2011
    Konferenz
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    Feasibility of time-delay based frequency-control of a sliding-mode buck converter
    Labbe, Benoît ; Chesneau, David ; et al.
    In: Proceedings of the IEEE 14th European Conference on Power Electronics and Applications ; EPE ; https://hal.science/hal-00704655 ; EPE, Aug 2011, Birmingham, United Kingdom. pp.CD, 2011
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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