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307 Treffer

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    VAE and AAE Networks Segment Brain Tumors from MRI
    Mirani, Mehri ; Soltani-Gol, Mohammad ; et al.
    In: 2023 30th National and 8th International Iranian Conference on Biomedical Engineering (ICBME), 2023-11-30, S. 126-131
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    OTB-AAE: Semi-Supervised Anomaly Detection on Industrial Images Based on Adversarial Autoencoder With Output-Turn-Back Structure
    Li, X. ; Jing, J. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, Jg. 72 (2023), S. 1-14
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Cross-lingual Sentiment Analysis via AAE and BiGRU
    Shen, Jianghong ; Liao, Xiaodong ; et al.
    In: 2020 Asia-Pacific Conference on Image Processing, Electronics and Computers (IPEC), 2020-04-01, S. 237-241
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Self-Adaption AAE-GAN for Aluminum Electrolytic Cell Anomaly Detection
    Cao, D. ; Liu, D. ; et al.
    In: IEEE Access, Jg. 9 (2021), S. 100991-101002
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    AAE-SC: A scRNA-Seq Clustering Framework Based on Adversarial Autoencoder
    Wu, Y. ; Guo, Y. ; et al.
    In: IEEE Access, Jg. 8 (2020), S. 178962-178975
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Self-Adaption AAE-GAN for Aluminum Electrolytic Cell Anomaly Detection
    Cao, Danyang ; Liu, Di ; et al.
    In: IEEE Access, Jg. 9 (2021), S. 100991-101002
    Online academicJournal
    Zugriff:
    View record in DOAJ (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Research on AAES Spatial-Temporal Data Model Based on Business Process of Resource Management
    An, Haizhong ; Zhao, Aihua ; et al.
    In: 2008 International Symposium on Knowledge Acquisition and Modeling, 2008-12-01, S. 18
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Quality Regularization-Based Semisupervised Adversarial Transfer Model With Unlabeled Data for Industrial Soft Sensing
    He, Y. ; Chen, L. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Industrial Informatics, Jg. 20 (2024-02-01), Heft 2, S. 1190-1197
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    AAE-SC: A scRNA-Seq Clustering Framework Based on Adversarial Autoencoder
    Wu, Yulun ; Guo, Yanming ; et al.
    In: IEEE Access, Jg. 8 (2020), S. 178962-178975
    Online academicJournal
    Zugriff:
    View record in DOAJ (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    A Novel Unsupervised Clustering and Domain Adaptation Framework for Rotating Machinery Fault Diagnosis
    Kim, T. ; Lee, S.
    In: IEEE Transactions on Industrial Informatics, Jg. 19 (2023-09-01), Heft 9, S. 9404-9412
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Deep Learning-Based Probabilistic Autoencoder for Residential Energy Disaggregation: An Adversarial Approach
    Cimen, H. ; Wu, Y. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Industrial Informatics, Jg. 18 (2022-12-01), Heft 12, S. 8399-8408
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    EE Professor at Tufts Receives AAES Norm Augustine Award [IEEE News]
    Mcmanes, C.
    In: IEEE Solid-State Circuits Magazine, Jg. 2 (2010), Heft 3, S. 79-80
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    AAES-Harris survey finds adults would be pleased if their kids chose engineering as a profession
    Johnson, M.
    In: IEEE Antennas and Propagation Magazine, Jg. 46 (2004-04-01), Heft 2, S. 134-135
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Adversarial Autoencoder Based Feature Learning for Fault Detection in Industrial Processes
    Jang, K. ; Hong, S. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Industrial Informatics, Jg. 18 (2022-02-01), Heft 2, S. 827-834
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Learning to Generate SAR Images With Adversarial Autoencoder
    Song, Q. ; Xu, F. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Geoscience and Remote Sensing, Jg. 60 (2022), S. 1-15
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    LSTM-Adversarial Autoencoder for Spectral Feature Learning in Hyperspectral Anomaly Detection
    Ouyang, Tongbin ; Wang, Jinshen ; et al.
    In: 2021 IEEE International Geoscience and Remote Sensing Symposium IGARSS, 2021-07-11, S. 2162-2165
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Detection of Sleeping Cells in Self-Organizing Cellular Networks: An Adversarial Auto-Encoder Method
    Zhang, T. ; Zhu, K. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Cognitive Communications and Networking, Jg. 7 (2021-09-01), Heft 3, S. 739-751
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Active Deep Feature Extraction for Hyperspectral Image Classification Based on Adversarial Learning
    Wang, X. ; Tan, K. ; et al.
    In: IEEE Geoscience and Remote Sensing Letters, Jg. 19 (2022), S. 1-5
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Extracting Explainable Deep Representation for Machine Tutoring
    Wang, Ming-Chen ; Golderzahi, Vahid ; et al.
    In: 2019 IEEE International Conference on Big Data (Big Data), 2019-12-01, S. 4651-4658
    Konferenz
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Beyond Geo-First Law: Learning Spatial Representations via Integrated Autocorrelations and Complementarity
    Du, Jiadi ; Zhang, Yunchao ; et al.
    In: 2019 IEEE International Conference on Data Mining (ICDM), 2019-11-01, S. 160-169
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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