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  1. Hieda, K. ; Eguchi, K. ; et al.
    In: International Electron Devices Meeting 1999. Technical Digest (Cat. No.99CH36318), 1999, S. 789-792
    Konferenz
  2. Yao, Jun ; Li, Xia ; et al.
    In: Proceedings of the 2003 International Conference on Machine Learning and Cybernetics (IEEE Cat. No.03EX693), Jg. 1 (2003), S. 71-71
    Konferenz
  3. Raysaha, R.B. ; Heiermeier, H.
    In: IEEE Transactions on Power Delivery, Jg. 37 (2022-12-01), Heft 6, S. 4623-4630
    Online academicJournal
  4. Yao, J. ; Li, X. ; et al.
    In: INTERNATIONAL CONFERENCE ON MACHINE LEARNING AND CYBERNETICS, Jg. 1 (2003), S. 71-75
    Konferenz
  5. Hieda, K. ; Eguchi, K. ; et al.
    In: INTERNATIONAL ELECTRON DEVICES MEETING, 1999, S. 789-792
    Konferenz
  6. Heiermeier, H. ; Kurinko, C.R. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Power Delivery, Jg. 36 (2021-02-01), Heft 1, S. 3-9
    Online academicJournal
  7. Bickel, Steffen ; Sen, Shawon ; et al.
    In: 2018 7th Electronic System-Integration Technology Conference (ESTC), 2018-09-01, S. 1-6
    Konferenz
  8. Niemczura, Bartosz ; Gliwa, Bogdan ; et al.
    In: 2015 Second European Network Intelligence Conference, 2015-09-01, S. 98-105
    Konferenz
  9. Yao, Jun ; Jia, Lei ; et al.
    In: Proceedings of the 2003 International Conference on Machine Learning and Cybernetics (IEEE Cat. No.03EX693), 2004-05-13
    Online unknown
  10. Hieda, Katsuhiko ; Nakahira, J. ; et al.
    In: International Electron Devices Meeting 1999. Technical Digest (Cat. No.99CH36318), 2003-01-22
    Online unknown
  11. Tsinos, C.G. ; Foukalas, F. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Communications, Jg. 65 (2017-09-01), Heft 9, S. 3765-3765
    Online academicJournal
  12. Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!
    Konferenz
  13. Hieda, K. ; Eguchi, K. ; et al.
    In: International Electron Devices Meeting 1999. Technical Digest (Cat. No.99CH36318, 2003
    Online Konferenz
  14. Zhao, Yajie ; Lin, Fei ; et al.
    In: 2023 IEEE International Conference on Energy Technologies for Future Grids (ETFG), 2023-12-03, S. 1-6
    Konferenz
  15. Zhou, W. ; Min, X. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Biometrics, Behavior, and Identity Science, Jg. 5 (2023-04-01), Heft 2, S. 266-276
    Online academicJournal
  16. Lu, Zhisheng ; Li, Juncheng ; et al.
    In: 2022 IEEE/CVF Conference on Computer Vision and Pattern Recognition Workshops (CVPRW), 2022-06-01, S. 456-465
    Konferenz
  17. McKinley, Ian M. ; Hummel, Christopher D. ; et al.
    In: 2024 IEEE Aerospace Conference, 2024-03-02, S. 1-10
    Konferenz
  18. Kleyner, Andre ; Elmore, David
    In: 2016 Annual Reliability and Maintainability Symposium (RAMS), 2016, S. 1-8
    Konferenz
  19. Haak, Alexander ; van Stralen, Marijn ; et al.
    In: 2011 IEEE International Ultrasonics Symposium, 2011-10-01, S. 152-155
    Konferenz
  20. Burton, D. ; Myles, P.S. ; et al.
    In: 2005 IEEE Engineering in Medicine and Biology 27th Annual Conference, 2005, S. 3676-3682
    Konferenz
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