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19.290 Treffer

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    An Approach to Neutron-Induced SER Evaluation Using a Clinical 290 MeV/ u Carbon Beam and Particle Transport Simulations
    Nakajima, Ryuichi ; Sugitani, Shotaro ; et al.
    In: 2024 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2024-04-14, S. 1-4
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    Plastic Scintillator Dosimetry of Ultrahigh Dose-Rate 200 MeV Electrons at CLEAR
    Hart, A. ; Giguere, C. ; et al.
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 24 (2024-05-01), Heft 9, S. 14229-14237
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Irradiation Hardened p-GaN HEMTs Enabling 558 V Single-Event Hardness at 75.7 MeV⋅cm2/mg and 95% Conversion Efficiency at 300 W/500 kHz
    Zhou, F. ; Zou, C. ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 45 (2024-06-01), Heft 6, S. 976-979
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Nondestructive Spectroscopic Investigation of N-Type 4H-SiC Defects Irradiated With Low Fluence 16.5 MeV/u Ta Ions
    Mao, B. ; Zhao, G. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 71 (2024-02-01), Heft 2, S. 154-159
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    A γ-Ray Detector Based on a 3” LaBr3:Ce:Sr Crystal With SiPM Readout for 80 keV–16 MeV Energy Range With Position Sensitivity for Doppler Correction
    Agnolin, M. ; Di Vita, D. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 70 (2023-10-01), Heft 10, S. 2337-2343
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Mode-decomposition-based Equivalent Via (MEV) Model and MEV Model Application Range Analysis
    Li, Chaofeng ; Cai, Kevin ; et al.
    In: 2023 Joint Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility and International Conference on ElectroMagnetic Interference & Compatibility (APEMC/INCEMIC), 2023-05-23, S. 1-4
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Measurement of 85Rb(n, 2n)84mRb reaction cross-section at 15.72±0.59 and 16.73±0.66 MeV
    Singh, N. L. ; Bangotra, P. ; et al.
    In: 2023 23rd International Scientific Conference on Electric Power Engineering (EPE), 2023-05-24, S. 1-4
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    MEVade: An MEV-Resistant Blockchain Design
    Piet, Julien ; Nair, Vivek ; et al.
    In: 2023 IEEE International Conference on Blockchain and Cryptocurrency (ICBC), 2023-05-01, S. 1-9
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Systematic study of the (n, p) reaction cross section on 112Cd isotope from reaction threshold to 20 MeV energies
    Singh, N. L. ; Bangotra, P. ; et al.
    In: 2023 23rd International Scientific Conference on Electric Power Engineering (EPE), 2023-05-24, S. 1-5
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Transmutation of 239Pu irradiated by 660 MeV protons
    Tanchak, Anhelina ; Adam, Jindrich ; et al.
    In: 2023 23rd International Scientific Conference on Electric Power Engineering (EPE), 2023-05-24, S. 1-5
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Development of 400 V-Tolerant Single-Event Effect Hardened 4H-SiC Schottky Diode With Linear Energy Transfer Upto 83.5 MeV⋅cm2/mg
    Yuan, H. ; Liu, K. ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 44 (2023-08-01), Heft 8, S. 1252-1255
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Investigation of n-Values With Applied Field and Temperature in Coated Conductors Ion Irradiated With 50 to 150 MeV Ag Ions
    Long, N.J. ; Soman, A.A. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Applied Superconductivity, Jg. 33 (2023-08-01), Heft 5, S. 1-5
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Measurements of neutron capture cross sections on 109Ag at 0.53, 1.05, 1.66 MeV
    Upadhyay, Mahima ; Choudhary, Mahesh ; et al.
    In: 2023 23rd International Scientific Conference on Electric Power Engineering (EPE), 2023-05-24, S. 1-4
    Konferenz
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Characterizing SEU Cross Sections of 12- and 28-nm SRAMs for 6.0, 8.0, and 14.8 MeV Neutrons
    Takami, Kazusa ; Gomi, Yuibi ; et al.
    In: 2023 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2023-03-01, S. 1-6
    Konferenz
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Proton Direct Ionization Upsets at Tens of MeV
    Coronetti, A. ; Alia, R.G. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 70 (2023-04-01), Heft 4, S. 314-321
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Effect of 20 MeV Electron Radiation on Long Term Reliability of SiC Power MOSFETs
    Niskanen, K. ; Kettunen, H. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 70 (2023-04-01), Heft 4, S. 456-461
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Validation of a new 60 MeV proton beam-line for radiation hardness testing
    Hofverberg, Petter ; Bezerra, Francoise ; et al.
    In: 2022 22nd European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (RADECS), 2022-10-03, S. 1-4
    Konferenz
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Thermal Neutron Radiography Facility Based on 13 MeV Proton Linac on Be Target
    Fantidis, Jacob G. ; Nicolaou, George
    In: 2022 International Conference on Communications, Information, Electronic and Energy Systems (CIEES), 2022-11-24, S. 1-4
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Design and Optimization of High-current Beam and Long-range Electron Gun for 1 MeV Electron Irradiation Accelerator
    Zhou, Zijian ; Zhang, Zhenyi ; et al.
    In: 2022 IEEE 3rd China International Youth Conference on Electrical Engineering (CIYCEE), 2022-11-03, S. 1-6
    Konferenz
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Characterization of the Effects of 250 MeV Proton-Induced Total Ionizing Dose and Displacement Damage on the 66266 Optocoupler
    Messenger, Scott ; Mishler, Codie ; et al.
    In: 2022 IEEE Radiation Effects Data Workshop (REDW) (in conjunction with 2022 NSREC), 2022-07-01, S. 1-11
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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