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    A Data Eye Width Improved and ODT PVT Tolerance Enhanced DDR4 SDRAM Using Fast Clock Gating and tADC Self-align
    Zhang, Hongguang ; Zhang, Zhiqiang ; et al.
    In: 2021 6th International Conference on Integrated Circuits and Microsystems (ICICM), 2021-10-22, S. 171-174
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Analysis of electromagnetic wave propagation characteristics in magnetized plasma based on ODT model
    Ma, Qiqi ; Chen, Wei ; et al.
    In: 2023 International Conference on Microwave and Millimeter Wave Technology (ICMMT), 2023-05-14, S. 1-3
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Hard-ODT: Hardware-Friendly Online Decision Tree Learning Algorithm and System
    Lin, Z. ; Sinha, S. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, Jg. 40 (2021-11-01), Heft 11, S. 2279-2292
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Adaptive OCD and ODT Control for Channel S/I Enhancement in DDR4 SDRAM
    Du, Yanwu ; Eom, Chris ; et al.
    In: 2021 IEEE 14th International Conference on ASIC (ASICON), 2021-10-26, S. 1-3
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Point Pattern Matching based on point pair local nonuniform ODT and Spectral Matching
    Deng, Wanxia ; Zou, Huanxin ; et al.
    In: 2016 International Conference on Image, Vision and Computing (ICIVC), 2016-08-01, S. 3-8
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    FAST-ODT: A Lightweight Outlier Detection Scheme for Categorical Data Sets
    Du, H. ; Ye, Q. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Network Science and Engineering, Jg. 8 (2021), Heft 1, S. 13-24
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Missing Cone Artifact Removal in ODT Using Unsupervised Deep Learning in the Projection Domain
    Chung, H. ; Huh, J. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Computational Imaging, Jg. 7 (2021), S. 747-758
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Optimizing ODT condition and Driver's turn-on resistance to achieve SI of LPDDR dual rank configuration
    Lee, Heeseok ; Hwang, Jisoo ; et al.
    In: 2019 IEEE 21st Electronics Packaging Technology Conference (EPTC), 2019-12-01, S. 608-612
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    A Novel CKE-ODT-CSN Encoding Scheme in DDR Memory Interface
    Murugan, Vinod Inipodu ; Mayandi, Narayanan ; et al.
    In: 2015 28th International Conference on VLSI Design, 2015, S. 204-208
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Development of an Fast-Omnidirectional Treadmill (F-ODT) for Immersive Locomotion Interface
    Pyo, Sang Hun ; Lee, Ho Su ; et al.
    In: 2018 IEEE International Conference on Robotics and Automation (ICRA), 2018-05-01, S. 760-766
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    23.1 A 7.5Gb/s/pin LPDDR5 SDRAM With WCK Clocking and Non-Target ODT for High Speed and With DVFS, Internal Data Copy, and Deep-Sleep Mode for Low Power
    Ha, Kyung-Soo ; Lee, Chang-Kyo ; et al.
    In: 2019 IEEE International Solid-State Circuits Conference - (ISSCC), 2019-02-01, S. 378-380
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    An efficient ODT calibration scheme for improved signal integrity in memory interface
    Kalyan, Gudipati ; Srinivas, M.B.
    In: 2010 IEEE Asia Pacific Conference on Circuits and Systems, 2010-12-01, S. 1211-1214
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    A Effective Detection Method using Optimized Decision Tree Classification for Network based Intrusion
    Sudha, K. ; Balakrishnan, C. ; et al.
    In: 2023 7th International Conference on Electronics, Communication and Aerospace Technology (ICECA), 2023-11-22, S. 1682-1688
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Small-area high-accuracy ODT/OCD by calibration of global on-chip for 512M GDDR5 application
    Koo, Jabeom ; Kim, Gil-su ; et al.
    In: 2009 IEEE Custom Integrated Circuits Conference, 2009-09-01, S. 717
    Konferenz
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    A Novel ODT Selection for Memory Data Bus of Daisy Chain Topologies
    Wu, Feng-Nan ; Wu, Chun-Te ; et al.
    In: 2008 3rd International Microsystems, Packaging, Assembly & Circuits Technology Conference, 2008-10-01, S. 367
    Konferenz
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Third-order nonlinear optical properties of regioregular poly(3-hexylthiophene) thin film on quartz glass modified by HMDS and ODTS
    Ochiai, S. ; Ramajothi, J. ; et al.
    In: 2008 International Symposium on Electrical Insulating Materials (ISEIM 2008), 2008-09-01, S. 255
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    26.6 A 2.667Gb/s DDR3 memory interface with asymmetric ODT on wirebond package and single-side-mounted PCB
    Chen, Shang-Pin ; Hung, Chih-Chien ; et al.
    In: 2014 IEEE International Solid-State Circuits Conference Digest of Technical Papers (ISSCC), 2014-02-01, S. 448-449
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    EMI Control of GDDR6 Design with Drive strength control and On-Die Termination Methods
    Singamsetty, Siva Krishna ; Prakash, Namratha ; et al.
    In: 2023 Joint Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility and International Conference on ElectroMagnetic Interference & Compatibility (APEMC/INCEMIC), 2023-05-23, S. 1-3
    Konferenz
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Configurable GNSS based orbit determination for LEO-PNT non-operative and operative phases
    Menzione, Francesco ; Renga, Alfredo ; et al.
    In: 2023 IEEE 10th International Workshop on Metrology for AeroSpace (MetroAeroSpace), 2023-06-19, S. 603-608
    Konferenz
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    A Modular Scan Design Verification approach for Multi-channel Mode
    Chandan, Anurag ; Koppad, Deepali ; et al.
    In: 2022 IEEE 3rd International Conference on VLSI Systems, Architecture, Technology and Applications (VLSI SATA), 2022-12-15, S. 1-5
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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