Zum Hauptinhalt springen
UB Hagen

Suchergebnisse

UB Katalog

Artikel & mehr
12 Treffer

Suchmaske

Suchtipp für den Bereich Artikel & mehr: Wörter werden automatisch mit UND verknüpft. Eine ODER-Verknüpfung erreicht man mit dem Zeichen "|", eine NICHT-Verknüpfung mit einem "-" (Minus) vor einem Wort. Anführungszeichen ermöglichen eine Phrasensuche.
Beispiele: (burg | schloss) -mittelalter, "berufliche bildung"

Das folgende Suchfeld wird hier nicht unterstützt: "Signatur / Strichcode".

Suchergebnisse einschränken oder erweitern

Aktive Suchfilter

Erscheinungszeitraum

Mehr Treffer

Weniger Treffer

Gefunden in

Art der Quelle

Schlagwort

Publikation

Sprache

12 Treffer

Sortierung: 
  1. Detailansicht für Treffer 1 öffnen
    High-Efficiency Cellular Power Amplifiers Based on a Modified LDMOS Process on Bulk Silicon and Silicon-On-Insulator Substrates With Integrated Power Management Circuitry
    Tombak, A. ; Dening, D. C. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, Jg. 60 (2012-06-01), Heft 6, S. 1862-1869
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    Subspace Modeling Enabled High-Sensitivity X-Ray Chemical Imaging
    Li, Jizhou ; Chen, Bin ; et al.
    In: ICASSP 2023 - 2023 IEEE International Conference on Acoustics, Speech and Signal Processing (ICASSP), 2023-06-04, S. 1-5
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    A Compact High Efficiency and High Power Front-end Module for GSM/EDGE/TD-SCDMA/TD-LTE Applications in 0.13um CMOS
    He, Shihai ; Peng, Fengxiong ; et al.
    In: 2018 IEEE Asian Solid-State Circuits Conference (A-SSCC), 2018-11-01, S. 289-292
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Sub-100 nm resolution 3-D tomography of CZTSe using transmission X-ray Microscopy
    Pruzan, D.S. ; Caruso, A.E. ; et al.
    In: 2015 IEEE 42nd Photovoltaic Specialist Conference (PVSC), 2015-06-01, S. 1-5
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    13.1 A fully integrated multimode front-end module for GSM/EDGE/TD-SCDMA/TD-LTE applications using a Class-F CMOS power amplifier
    Tsai, Ming-Da ; Lin, Chien-Cheng ; et al.
    In: 2017 IEEE International Solid-State Circuits Conference (ISSCC), 2017-02-01, S. 216-217
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Transfer impedance measurements and simulations on perforated fully-rigid coaxial cables with the Line Injection and the Triaxial Method
    Kreisch, Karsten ; Kubitzek, Stephan ; et al.
    In: 2014 International Symposium on Electromagnetic Compatibility, 2014-09-01, S. 850-855
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    EM and SM induced degradation dynamics in copper interconnects studied using electron microscopy and X-ray microscopy
    Zschech, Ehrenfried ; Hubner, Rene ; et al.
    In: 2010 IEEE International Reliability Physics Symposium, 2010-05-01, S. 574-580
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Transverse Field-Induced Nucleation Pad Switching Modes During Domain Wall Injection
    Bryan, M. T. ; Fry, P. W. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Magnetics, Jg. 46 (2010-04-01), Heft 4, S. 963-967
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    13.1 A fully integrated multimode front-end module for GSM/EDGE/TD-SCDMA/TD-LTE applications using a Class-F CMOS power amplifier
    Lin, Chien-Cheng ; Chien, George ; et al.
    In: 2017 IEEE International Solid-State Circuits Conference (ISSCC), 2017-02-01
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    POWER AMPLIFIER MODULE WITH INTEGRATED PHEMT SWITCH.
    In: IEEE Communications Magazine, Jg. 42 (2004-05-01), Heft 5, S. 26-26
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Transfer impedance measurements and simulations on perforated fully-rigid coaxial cables with the Line Injection and the Triaxial Method
    Hofmeister, Christian ; Kubitzek, Stephan ; et al.
    In: 2014 International Symposium on Electromagnetic Compatibility, 2014-09-01
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    EM and SM induced degradation dynamics in copper interconnects studied using electron microscopy and X-ray microscopy
    Ho, Paul S. ; Zschech, Ehrenfried ; et al.
    In: 2010 IEEE International Reliability Physics Symposium, 2010-05-01
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -