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    Radiation Testing of the XFM X-Ray Detector for the Lagrange Mission
    Giurisato, D. ; Andersson, H. ; et al.
    In: 2020 IEEE Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference (NSS/MIC), 2020-10-31, S. 1-5
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    XIP software for XFM (X-Ray fused with MRI)
    Ozdal, E. ; Yazici, A. ; et al.
    In: 2010 15th National Biomedical Engineering Meeting, 2010-04-01, S. 1-4
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Extreme formal modeling (XFM) for hardware models
    Suhaib, S. ; Mathaikutty, D. ; et al.
    In: Fifth International Workshop on Microprocessor Test and Verification (MTV'04), 2004, S. 30-35
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Radiation Testing of the XFM X-Ray Detector for the Lagrange Mission
    Andersson, Hans ; Lehtolainen, A. ; et al.
    In: 2020 IEEE Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference (NSS/MIC), 2020-10-31
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    XIP software for XFM (X-Ray fused with MRI)
    Yazici, Abdulkadir ; Ozdal, Emre ; et al.
    In: 2010 15th National Biomedical Engineering Meeting, 2010-04-01
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    XFastMesh: Fast view-dependent meshing from external memory
    DECORO, Christopher ; PAJAROLA, Renato
    In: VIS 2002 : IEEE visualization 2002 (Boston MA, 27 October- 1 November 2002), 2002, S. 363-370
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    XIP software for XFM (X-Ray fused with MRI).
    O?zdal, E. ; Yazici, A. ; et al.
    In: 2010 15th National Biomedical Engineering Meeting (BIYOMUT), 2010, S. 1-4
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Development of a High Count-Rate X-ray Detector with Backscattering Geometry for Synchrotron Applications
    Ticchi, G. ; Pedretti, B. ; et al.
    In: 2023 IEEE Nuclear Science Symposium, Medical Imaging Conference and International Symposium on Room-Temperature Semiconductor Detectors (NSS MIC RTSD), 2023-11-04, S. 1-1
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Preliminary Design of a Large Solid Angle X-ray Detector with Backscattering Geometry for High-Count-Rate Applications
    Ticchi, G. ; Pedretti, B. ; et al.
    In: 2022 IEEE Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference (NSS/MIC), 2022-11-05, S. 1-3
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Effects of property ordering in an incremental formal modeling methodology
    Suhaib, Syed ; Mathaikutty, Deepak ; et al.
    In: Proceedings. Ninth IEEE International High-Level Design Validation and Test Workshop (IEEE Cat. No.04EX940), 2004, S. 89-94
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    High Rate SDD-Based Spectrometer for Energy-Dispersive X-ray Fluorescence Detection
    Utica, G. ; Carminati, M. ; et al.
    In: 2021 IEEE Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference (NSS/MIC), 2021-10-16, S. 1-3
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    MR and X-Ray Angiography registration intensity based approach
    Durmaz, F.A. ; Yilmam, A.C. ; et al.
    In: 2009 14th National Biomedical Engineering Meeting, 2009-05-01, S. 1
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    High Rate SDD-Based Spectrometer for Energy-Dispersive X-ray Fluorescence Detection
    Utica, G. ; Carminati, M. ; et al.
    2022
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Effects of property ordering in an incremental formal modeling methodology
    Mathaikutty, Deepak A. ; Suhaib, Syed ; et al.
    In: Proceedings. Ninth IEEE International High-Level Design Validation and Test Workshop (IEEE Cat. No.04EX940), 2004
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    MR and X-Ray Angiography registration intensity based approach
    A. Cagatay Yilmam ; F. Aytac Durmaz ; et al.
    In: 2009 14th National Biomedical Engineering Meeting, 2009-05-01
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
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