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  1. Karagounis, A. ; Kanapitsas, A. ; et al.
    2008
    Konferenz
  2. Fukuda, H.
    In: Proceedings. 34th International Symposium on Multiple-Valued Logic, 2004
    Online Konferenz
  3. Froidevaux, M.
    In: [Proceedings] EURO ASIC `90, 2002
    Online Konferenz
  4. Guilley, S. ; Hoogvorst, P. ; et al.
    In: Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition ; https://telecom-paris.hal.science/hal-02893279 ; Design, 2004
    Konferenz
  5. Ashouei, M. ; Chatterjec, A. ; et al.
    In: 2005 International Conference on Computer Design, 2006
    Online Konferenz
  6. Quan, Shaolei ; Liu, Meng-Yao ; et al.
    In: 20th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT'05, 2006
    Online Konferenz
  7. Valdes-Garcia, A. ; Venkatasubramanian, R. ; et al.
    In: 23rd IEEE VLSI Test Symposium (VTS'05, 2005
    Online Konferenz
  8. Chen, Qikai ; Mahmoodi, H. ; et al.
    In: 23rd IEEE VLSI Test Symposium (VTS'05, 2005
    Online Konferenz
  9. Forshaw, M.
    In: Proceedings 20th IEEE VLSI Test Symposium (VTS 2002, 2005
    Online Konferenz
  10. Chen, R.T. ; Wu, L. ; et al.
    In: Proceedings of the Fourth International Conference on Massively Parallel Processing Using Optical Interconnections, 2005
    Online Konferenz
  11. Dryden, C.
    In: 23rd IEEE VLSI Test Symposium (VTS'05, 2005
    Online Konferenz
  12. Fey, D. ; Hoppe, L. ; et al.
    In: Parallel Computing in Electrical Engineering, International Conference on, 2005
    Online Konferenz
  13. Iskander, R. ; Dessouky, M. ; et al.
    In: 2003 Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition, 2005
    Online Konferenz
  14. Bernstein, K.
    In: International Symposium on Signals, Circuits and Systems. Proceedings, SCS 2003. (Cat. No.03EX720, 2005
    Online Konferenz
  15. Guilley, S. ; Hoogvorst, P. ; et al.
    In: Proceedings Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition, 2004
    Online Konferenz
  16. Chatterjee, B. ; Sachdev, M. ; et al.
    In: SCS 2003. International Symposium on Signals, Circuits and Systems. Proceedings (Cat. No.03EX720, 2004
    Online Konferenz
  17. Iwai, H.
    In: 17th International Conference on VLSI Design. Proceedings, 2004
    Online Konferenz
  18. Kassem, A. ; Wang, J. ; et al.
    In: The 3rd IEEE International Workshop on System-on-Chip for Real-Time Applications, 2003. Proceedings, 2004
    Online Konferenz
  19. Dhillon, Y.S. ; Diril, A.U. ; et al.
    In: Proceedings. 10th IEEE International On-Line Testing Symposium, 2004
    Online Konferenz
  20. Rajagopal, C. ; Nunez-Aldana, A.
    In: IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI, 2004
    Online Konferenz
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md 768 - 992
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