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  1. Stuchlik, K.R.
    In: International Test Conference 1988 Proceeding@m_New Frontiers in Testing, 2003-01-06
    Online unknown
  2. Olivo, Piero ; Favalli, Michele ; et al.
    In: Proceedings of 1993 IEEE International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, 2002-12-30
    Online unknown
  3. Gneiting, T. ; Jalowiecki, I.
    In: Proceedings. 1996 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, 2002-12-23
    Online unknown
  4. Wu, Xunwei ; Prosser, F. ; et al.
    In: Proceedings. The Nineteenth International Symposium on Multiple-Valued Logic, 2003-01-07
    Online unknown
  5. Chesters, M.J.
    In: Proceedings. VLSI and Computer Peripherals. COMPEURO 89, 2003-01-07
    Online unknown
  6. Reddy, Sudhakar M. ; Kundu, Sandip
    In: Proceedings 1989 IEEE International Conference on Computer Design: VLSI in Computers and Processors, 2003-01-07
    Online unknown
  7. Wilczynski, J.
    In: Proceedings. VLSI and Computer Peripherals. COMPEURO 89, 2003-01-07
    Online unknown
  8. Lu, F. ; Samueli, H.
    In: Eighth Annual International Phoenix Conference on Computers and Communications. 1989 Conference Proceedings, 2003-01-07
    Online unknown
  9. Ferguson, F.J. ; John Paul Shen
    In: International Test Conference 1988 Proceeding@m_New Frontiers in Testing, 2003-01-06
    Online unknown
  10. Wu, Xunwei ; Prosser, F.
    In: [1988] Proceedings. The Eighteenth International Symposium on Multiple-Valued Logic, 2003-01-06
    Online unknown
  11. Nigh, P.J. ; Maly, Wojciech ; et al.
    In: Proceedings 1988 IEEE International Conference on Computer Design: VLSI, 2003-01-06
    Online unknown
  12. Richotte, J. ; Chan, D. ; et al.
    In: Proceedings 1988 IEEE International Conference on Computer Design: VLSI, 2003-01-06
    Online unknown
  13. Rajski, Janusz ; Cox, H.
    In: International Test Conference 1988 Proceeding@m_New Frontiers in Testing, 2003-01-06
    Online unknown
  14. Sakurai, Takayasu
    In: [1988] IEEE International Conference on Computer-Aided Design (ICCAD-89) Digest of Technical Papers, 2003-01-06
    Online unknown
  15. Chen, H. Y. ; Kang, Sung-Mo
    In: [1988] IEEE International Conference on Computer-Aided Design (ICCAD-89) Digest of Technical Papers, 2003-01-06
    Online unknown
  16. Sciuto, D. ; Buonanno, G.
    In: Proceedings 1992 IEEE International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, 2003-01-02
    Online unknown
  17. Current, K.W.
    In: [1992] Proceedings The Twenty-Second International Symposium on Multiple-Valued Logic, 2003-01-02
    Online unknown
  18. Ferguson, F.J. ; Jee, A.
    In: Digest of Papers Eleventh Annual 1993 IEEE VLSI Test Symposium, 2002-12-31
    Online unknown
  19. Bollinger, S.W. ; Midkiff, Scott F.
    In: Digest of Papers Eleventh Annual 1993 IEEE VLSI Test Symposium, 2002-12-31
    Online unknown
  20. Narita, Y. ; Yokoyama, Hiroshi ; et al.
    In: Records of the 1993 IEEE International Workshop on Memory Testing, 2002-12-31
    Online unknown
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
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