Zum Hauptinhalt springen
UB Hagen

Suchergebnisse

UB Katalog

Artikel & mehr
65 Treffer

Suchmaske

Suchtipp für den Bereich Artikel & mehr: Wörter werden automatisch mit UND verknüpft. Eine ODER-Verknüpfung erreicht man mit dem Zeichen "|", eine NICHT-Verknüpfung mit einem "-" (Minus) vor einem Wort. Anführungszeichen ermöglichen eine Phrasensuche.
Beispiele: (burg | schloss) -mittelalter, "berufliche bildung"

Das folgende Suchfeld wird hier nicht unterstützt: "Signatur / Strichcode".

Suchergebnisse einschränken oder erweitern

Aktive Suchfilter

Erscheinungszeitraum

Mehr Treffer

Weniger Treffer

Gefunden in

Art der Quelle

Schlagwort

Publikation

65 Treffer

Sortierung: 
  1. Detailansicht für Treffer 1 öffnen
    On CMOS bridge fault modeling and test pattern evaluation
    Di, chennian ; Jess, J.A.G.
    In: Digest of Papers Eleventh Annual 1993 IEEE VLSI Test Symposium, 1993, S. 116-119
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    Classification of bridging faults in CMOS circuits: experimental results and implications for test
    Midkiff, S.F. ; Bollinger, S.W.
    In: Digest of Papers Eleventh Annual 1993 IEEE VLSI Test Symposium, 1993, S. 112-115
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Physical design for testability for bridges in CMOS circuits
    Ferguson, F.J.
    In: Digest of Papers Eleventh Annual 1993 IEEE VLSI Test Symposium, 1993, S. 290-295
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    On evaluating competing bridge fault models for CMOS ICs
    Chess, B. ; Roth, C. ; et al.
    In: Proceedings of IEEE VLSI Test Symposium, 1994, S. 446-451
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    CMOS bridging fault modeling
    Renovell, M. ; Huc, P. ; et al.
    In: Proceedings of IEEE VLSI Test Symposium, 1994, S. 392-397
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Analysis of I/sub DDQ/ detectable bridges in combinational CMOS circuits
    Isern, E. ; Figueras, J.
    In: Proceedings of IEEE VLSI Test Symposium, 1994, S. 368-373
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Transition count testing of CMOS combinational circuits
    Manjunath, K.S. ; Radharkrishnan, D.
    In: [1991] Proceedings. First Great Lakes Symposium on VLSI, 1991, S. 110-114
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Synthesis of multiple outputs CMOS gates
    Buonanno, G. ; Sciuto, D. ; et al.
    In: [1991] Proceedings. Fourth CSI/IEEE International Symposium on VLSI Design, 1991, S. 51-56
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Excimer laser formed vertical links of standard CMOS double-level metallizations
    Hillmann-Ruge, T. ; Hartmann, H. D.
    In: 1991 Proceedings, International Conference on Wafer Scale Integration, 1991, S. 207-213
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Investigations of Nd:YAG laser formed connections and disconnections of standard CMOS double level metallizations
    Hartmann, H. D. ; Hillmann-Ruge, T.
    In: 1990 Proceedings. International Conference on Wafer Scale Integration, 1990, S. 298-307
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Sensitivity analysis of a radiation immune CMOS logic family under defect conditions
    Ingermann, E.H. ; Frenzel, J.F.
    In: Digest of Papers Eleventh Annual 1993 IEEE VLSI Test Symposium, 1993, S. 355-357
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    An energy-efficient CMOS line driver using adiabatic switching
    Athas, W.C. ; Koller, J.G. ; et al.
    In: Proceedings of 4th Great Lakes Symposium on VLSI, 1994, S. 196-199
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Carafe: an inductive fault analysis tool for CMOS VLSI circuits
    Jee, A. ; Ferguson, F.J.
    In: Digest of Papers Eleventh Annual 1993 IEEE VLSI Test Symposium, 1993, S. 92-98
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Design of fail-safe CMOS logic circuits
    Bobin, V. ; Whitaker, S.
    In: [1991] Proceedings. First Great Lakes Symposium on VLSI, 1991, S. 338-339
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Circuit-level dictionaries of CMOS bridging faults
    Lee, T. ; Chuang, W. ; et al.
    In: Proceedings of IEEE VLSI Test Symposium, 1994, S. 386-391
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Modeling stuck-open faults in CMOS iterative circuits
    Macii, E. ; Xu, Q.
    In: [1993] Proceedings Third Great Lakes Symposium on VLSI-Design Automation of High Performance VLSI Systems, 1993, S. 14-17
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    A new algorithm for signal flow determination in CMOS VLSI
    Baba-ali, A.R.
    In: [1992] Proceedings of the Second Great Lakes Symposium on VLSI, 1992, S. 138-141
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    A low power CMOS correlator
    Canaris, J. ; Whitaker, S.
    In: [1991] Proceedings. First Great Lakes Symposium on VLSI, 1991, S. 122-127
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Optimizing carry lookahead adders for semicustom CMOS
    Thomborson, C.D. ; Sun, Y.
    In: [1993] Proceedings Third Great Lakes Symposium on VLSI-Design Automation of High Performance VLSI Systems, 1993, S. 119-122
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    CMOS output buffer waveshaping
    Albertson, L. ; Whitaker, S. ; et al.
    In: [1991] Proceedings. First Great Lakes Symposium on VLSI, 1991, S. 326-327
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -