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  1. GILL, Balkararn S ; PAPACHRISTOU, Chris ; et al.
    In: 22nd IEEE VLSI test symposium (Napa Valley CA, 25-29 April 2004), 2004, S. 325-330
    Konferenz
  2. ALTET, J ; RUBIO, A ; et al.
    In: 22nd IEEE VLSI test symposium (Napa Valley CA, 25-29 April 2004), 2004, S. 179-184
    Konferenz
  3. HANCHATE, Narender ; RANGANATHAN, N
    In: 17th International Conference on VLSI Design (concurrently with the 3rd International Conference on Embedded Systems Design), 2004, S. 228-233
    Konferenz
  4. RAMIREZ-ANGULO, Jaime ; GONZALEZ-CARVAJAL, Ramon ; et al.
    In: 17th International Conference on VLSI Design (concurrently with the 3rd International Conference on Embedded Systems Design), 2004, S. 39-44
    Konferenz
  5. CIUPLYS, Dainius ; LARSSON-EDEFORS, Per
    In: 17th International Conference on VLSI Design (concurrently with the 3rd International Conference on Embedded Systems Design), 2004, S. 658-661
    Konferenz
  6. CHOPRA, Kaviraj ; VRUDHULA, Sarma B. K ; et al.
    In: 17th International Conference on VLSI Design (concurrently with the 3rd International Conference on Embedded Systems Design), 2004, S. 240-245
    Konferenz
  7. RAJA, Tezaswi ; AGRAWAL, Vishwani D ; et al.
    In: 17th International Conference on VLSI Design (concurrently with the 3rd International Conference on Embedded Systems Design), 2004, S. 1035-1040
    Konferenz
  8. JIE, LONG ; WEBER, Robert J
    In: 17th International Conference on VLSI Design (concurrently with the 3rd International Conference on Embedded Systems Design), 2004, S. 393-397
    Konferenz
  9. KRISHNAMOHAN, Srivathsan ; MAHAPATRA, Nihar R
    In: ICCD 2004 (IEEE International Conference on Computer Design), 2004, S. 126-131
    Konferenz
  10. DEHGHANI, Rasoul
    In: 17th International Conference on VLSI Design (concurrently with the 3rd International Conference on Embedded Systems Design), 2004, S. 163-167
    Konferenz
  11. Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!
    Konferenz
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    Konferenz
  13. Rigault, Samuel ; Moeneclaey, Nicolas ; et al.
    In: 32nd IEEE International System on Chip Conference, SOCC 2019 ; https://hal.science/hal-03770930 ; 32nd IEEE International System on Chip Conference, 2019
    Konferenz
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    Konferenz
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    Konferenz
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    Konferenz
  18. Castillejo, A. ; Veychard, D. ; et al.
    In: Proceedings International Test Conference 1998 ; https://hal.science/hal-00005875, 1998
    Konferenz
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    Konferenz
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