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    Existence of Single-Event Double-Node Upsets (SEDU) in Radiation-Hardened Latches for Sub-65nm CMOS Technologies : 2022 IEEE International test conference (ITC 2022)
    Hsiao, Sam M. H. ; Wang, Lowry P. T. ; et al.
    In: Proceedings, Jg. 2022 (2022), S. 128-136
    Konferenz
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    A Fast and Low Cost Embedded Test Solution for CMOS Image Sensors : 2021 IEEE International Test Conference (ITC 2021)
    Lefevre, Julia ; Girard, Patrick ; et al.
    In: Proceedings, Jg. 2021 (2021), S. 1-9
    Konferenz
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    APPLICATION OF CELL-AWARE TEST ON AN ADVANCED 3NM CMOS TECHNOLOGY LIBRARY : IEEE International Test Conference (ITC)
    Gao, Zhan ; Malagi, Santosh ; et al.
    In: Proceedings, Jg. 2019 (2019), S. 89-94
    Konferenz
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    Functionally Complete Boolean Logic and Adder Design Based on 2T2R RRAMs for Post-CMOS In-Memory Computing : 29th Great Lakes Symposium on VLSI
    Yang, Zongxian ; Ma, Yixiao ; et al.
    In: Proceedings of the ... Great Lakes Symposium on VLSI, Jg. 29 (2019), S. 147-152
    Konferenz
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    Low Cost Hybrid Spin-CMOS Compressor for Stochastic Neural Networks : 29th Great Lakes Symposium on VLSI
    Li, Bingzhe ; Hu, Jiaxi ; et al.
    In: Proceedings of the ... Great Lakes Symposium on VLSI, Jg. 29 (2019), S. 141-146
    Konferenz
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    Circuit Techniques for Online Learning of Memristive Synapses in CMOS-Memristor Neuromorphic Systems : Great Lakes Symposium on VLSI
    Sayyaparaju, Sagarvarma ; Amer, Gangotree Chakma Sherif ; et al.
    In: Proceedings of the ... Great Lakes Symposium on VLSI, Jg. 27 (2017), S. 479-482
    Konferenz
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    DYNAMIC PHOTOMETRIC STEREO METHOD USING MULTI-TAP CMOS IMAGE SENSOR : Pattern recognition (International conference)
    Yoda, Takuya ; Nagahara, Hajime ; et al.
    In: International Conference on Pattern Recognition, Jg. 23 (2016), Heft 4, S. 2356-2361
    Konferenz
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    Embedded Tutorial: Test Consideration for Nanometer Scale CMOS Circuits : VLSI test symposium
    Roy, K. ; Mak, T. M. ; et al.
    In: IEEE VLSI TEST SYMPOSIUM, 2003, S. 313-318
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Timed Test Generation Crosstalk Switch Failures in Domino CMOS Circuits : VLSI test symposium; (VTS 2002)
    Kundu, R. ; Blanton, R.
    In: IEEE VLSI TEST SYMPOSIUM, 2002, S. 379-388
    Konferenz
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    Digital and Analog-Mixed-Signal In-Memory Processing in CMOS SRAM : 29th Great Lakes Symposium on VLSI
    Jaiswal, Akhilesh ; Agrawal, Amogh ; et al.
    In: Proceedings of the ... Great Lakes Symposium on VLSI, Jg. 29 (2019), S. 371-372
    Konferenz
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    High-Voltage Stress Test Paradigms of Analog CMOS ICs for Gate-Oxide Reliability Enhancement : VLSI test symposium
    Khalil, M. ; Wey, C. L.
    In: IEEE VLSI TEST SYMPOSIUM, 2001, S. 333-338
    Konferenz
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Average Leakage Current Estimation of CMOS Logic Circuits : VLSI test symposium
    de Gyvez, J. ; van de Wetering, E.
    In: IEEE VLSI TEST SYMPOSIUM, 2001, S. 375-379
    Konferenz
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    MINVDD Testing for Weak CMOS ICs : VLSI test symposium
    Tseng, C. W. ; Chen, R. ; et al.
    In: IEEE VLSI TEST SYMPOSIUM, 2001, S. 339-345
    Konferenz
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    Resistive Opens in a Class of CMOS Latches: Analysis and DFT : VLSI test symposium
    Zenteno, A. ; Champac, V.
    In: IEEE VLSI TEST SYMPOSIUM, 2001, S. 138-144
    Konferenz
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    Detection of CMOS Defects under Variable Processing Conditions : IEEE VLSI test symposium
    Germida, A. ; Plusquellic, J.
    In: IEEE VLSI TEST SYMPOSIUM, 2000, S. 195-204
    Konferenz
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    G4: A Fault-Tolerant CMOS Mainframe
    Spainhower, L. ; Gregg, T. A.
    In: FTCS, 1998, S. 432-440
    serialPeriodical
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Optimal Transitor Sizing for CMOS VLSI Circuits Using Modular Artificial Neural Networks
    Ilumoka, A. A.
    In: SOUTHEASTERN SYMPOSIUM ON SYSTEM THEORY, Jg. 29 (1997), S. 310-314
    serialPeriodical
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    A Framework for Estimating Maximum Power Dissipation in CMOS Combinational Circuits Using Genetic Algorithms
    Placer, J. ; Sagahyroon, A. ; et al.
    In: SOUTHEASTERN SYMPOSIUM ON SYSTEM THEORY, Jg. 28 (1996), S. 348-352
    serialPeriodical
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Gas Sensor Fabricated in Commercial CMOS Technology
    Srivastava, A. ; George, N.
    In: SOUTHEASTERN SYMPOSIUM ON SYSTEM THEORY, Jg. 28 (1996), S. 343-347
    serialPeriodical
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    A CMOS VLSI IC for Real-Time Opto-Electronic Two-Dimensional Histogram Generation
    Richstein, J. K. ; Fouts, D. J. ; et al.
    In: SOUTHEASTERN SYMPOSIUM ON SYSTEM THEORY, Jg. 26 (1994), S. 390-394
    serialPeriodical
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