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    A High-Sensitivity Low-Power CMOS Sensor for a Future Neutron Personal Dosimeter : Advancements in nuclear instrumentation, measurement methods and their applications
    Zhang, Y. ; Hu-Guo, C. ; et al.
    In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, Jg. 59 (2012), Heft 4, S. 1465-1471
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
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    Detection of Thermal Neutrons With a CMOS Pixel Sensor for a Future Dosemeter : Advancements in nuclear instrumentation, measurement methods and their applications
    Vanstalle, M. ; Husson, D. ; et al.
    In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, Jg. 59 (2012), Heft 4, S. 1443-1447
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Design and Simulation of a MGy Radiation Tolerant Signal Conditioning Circuit for Resistive Sensors in 0.7 μm CMOS : Advancements in nuclear instrumentation, measurement methods and their applications
    Leroux, P. ; Sterckx, J. ; et al.
    In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, Jg. 59 (2012), Heft 4, S. 1309-1316
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Comparison of X-Ray and Electron Radiation Effects on Dark Current Non-Uniformity and Fluctuations in CMOS Image Sensors
    Belloir, Jean-Marc ; Alexandre Le Roch ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, 2020
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
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    A Radiation Hard Bandgap Reference Circuit in a Standard 0.13 μm CMOS Technology : Radiation and its effects on components and systems; (RADECS)
    Gromov, V. ; Annema, A.J. ; et al.
    In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, Jg. 54 (2007), Heft NO 4, S. 2727-2733
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
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    Design and Assessment of a Circuit and Layout Level Radiation Hardened CMOS VCSEL Driver : Radiation and its effects on components and systems; (RADECS)
    Leroux, P. ; Lens, S. ; et al.
    In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, Jg. 54 (2007), Heft 4 PART 2, S. 1055-1060
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
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    Altitude SEE Test European Platform (ASTEP) and First Results in CMOS 130 nm SRAM : Radiation and its effects on components and systems; (RADECS)
    Autran, J. L. ; Roche, P. ; et al.
    In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, Jg. 54 (2007), Heft 4 PART 2, S. 1002-1009
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
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    Analysis of Parasitic PNP Bipolar Transistor Mitigation Using Well Contacts in 130 nm and 90 nm CMOS Technology : Radiation and its effects on components and systems; (RADECS)
    Olson, B. D. ; Amusan, O. A. ; et al.
    In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, Jg. 54 (2007), Heft 4 PART 2, S. 894-897
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
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    VHDL-AMS Modeling of Total Ionizing Dose Radiation Effects on CMOS Mixed Signal Circuits : Radiation and its effects on components and systems; (RADECS)
    Mikkola, E. O. ; Vermeire, B. ; et al.
    In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, Jg. 54 (2007), Heft 4 PART 2, S. 929-934
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
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  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Application of RADSAFE to Model the Single Event Upset Response of a 0.25 mum CMOS SRAM : Radiation and its effects on components and systems; (RADECS)
    Warren, K. M. ; Weller, R. A. ; et al.
    In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, Jg. 54 (2007), Heft 4 PART 2, S. 898-903
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
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    Heavy Ion Energy Effects in CMOS SRAMs : Radiation and its effects on components and systems; (RADECS)
    Dodd, P. E. ; Schwank, J. R. ; et al.
    In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, Jg. 54 (2007), Heft 4 PART 2, S. 889-893
    Online Konferenz
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Alpha-Induced Multiple Cell Upsets in Standard and Radiation Hardened SRAMs Manufactured in a 65 nm CMOS Technology : IEEE nuclear and space radiation effects conference (NSREC '06)
    Gasiot, G. ; Giot, D. ; et al.
    In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, Jg. 53 (2006), Heft 6, S. 3479-3486
    Online Konferenz
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    Digital Device Error Rate Trends in Advanced CMOS Technologies : IEEE nuclear and space radiation effects conference (NSREC '06)
    Gadlage, M. J. ; Eaton, P. H. ; et al.
    In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, Jg. 53 (2006), Heft 6, S. 3466-3471
    Online Konferenz
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    Radiation Hardened by Design RF Circuits Implemented in 0.13 mum CMOS Technology : IEEE nuclear and space radiation effects conference (NSREC '06)
    Chen, W. ; Pouget, V. ; et al.
    In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, Jg. 53 (2006), Heft 6, S. 3449-3454
    Online Konferenz
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    Propagating SET Characterization Technique for Digital CMOS Libraries : IEEE nuclear and space radiation effects conference (NSREC '06)
    Baze, M. P. ; Wert, J. ; et al.
    In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, Jg. 53 (2006), Heft 6, S. 3472-3478
    Online Konferenz
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    Optimization for SEU/SET Immunity on 0.15 mum Fully Depleted CMOS/SOI Digital Logic Devices : IEEE nuclear and space radiation effects conference (NSREC '06)
    Makihara, A. ; Yamaguchi, T. ; et al.
    In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, Jg. 53 (2006), Heft 6, S. 3422-3427
    Online Konferenz
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    Crosstalk Effects Caused by Single Event Hits in Deep Sub-Micron CMOS Technologies : IEEE nuclear and space radiation effects conference (NSREC '06)
    Balasubramanian, A. ; Sternberg, A. L. ; et al.
    In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, Jg. 53 (2006), Heft 6, S. 3306-3311
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    Charge Collection and Charge Sharing in a 130 nm CMOS Technology : IEEE nuclear and space radiation effects conference (NSREC '06)
    Amusan, O. A. ; Witulski, A. F. ; et al.
    In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, Jg. 53 (2006), Heft 6, S. 3253-3258
    Online Konferenz
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    Multiple-Bit Upset in 130 nm CMOS Technology : IEEE nuclear and space radiation effects conference (NSREC '06)
    Tipton, A. D. ; Pellish, J. A. ; et al.
    In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, Jg. 53 (2006), Heft 6, S. 3259-3264
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    X-Ray Irradiation and Bias Effects in Fully-Depleted and Partially-Depleted SiGe HBTs Fabricated on CMOS-Compatible SOI : IEEE nuclear and space radiation effects conference (NSREC '06)
    Bellini, M. ; Jun, B. ; et al.
    In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, Jg. 53 (2006), Heft 6, S. 3182-3186
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