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    Mapping the Spatial Dependence of Charge-Collection Efficiency in Semiconductor Devices Using Pulsed-Laser Testing
    Khachatrian, Ani ; Ildefonso, Adrian ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 68 (2021-05-01), S. 617-625
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    Systematic Analysis of Reliability of Large-Area 4H-SiC Charged Particle Detector Under Harsh He Ion Irradiation
    Li, Yang ; Liu, Linyue ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 68 (2021-05-01), S. 1169-1174
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    Effects of High-Dose X-Ray Irradiation on the Hole Lifetime in Vacuum-Deposited Stabilized a-Se Photoconductive Films: Implications to the Quality Control of a-Se Used in X-Ray Detectors
    Kasap, Safa ; Johanson, Robert E. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 67 (2020-11-01), S. 2445-2453
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    Accurate Determination of the Ionization Energy in Pixelated TlBr Correcting for Charge Collection Efficiency
    Leak, Charles ; O'Neal, Sean ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 65 (2018-03-01), S. 950-954
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    X-<formula formulatype='inline'><tex Notation='TeX'>$\gamma$</tex> </formula> Ray Spectroscopy With Semi-Insulating 4H-Silicon Carbide
    Pullia, Alberto ; Bertuccio, Giuseppe ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 60 (2013-04-01), S. 1436-1441
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    Detectors of Gamma Rays and Alpha Particles Based on Ta-Doped InP Converted to the Semi-Insulating State by Annealing
    Zdansky, Karel ; Pekarek, L. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 56 (2009-10-01), S. 2997-3001
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    Deterioration of Electrical and Spectroscopic Properties of a Detector Grade Silicon Photodiode Exposed to Short Range Proton, Lithium and Oxygen Ion Irradiation
    Novak, Mihaly ; Jakšić, Milko ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 56 (2009-08-01), S. 2457-2464
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    Decrease of Charge Collection Due to Displacement Damage by Gamma Rays in a 6H-SiC Diode
    Onoda, Shinobu ; Hirao, Toshio ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 54 (2007-12-01), S. 1953-1960
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    Impact of Auger Recombination on Charge Collection of a 6H-SiC Diode by Heavy Ions
    Ohshima, Takeshi ; Onoda, Shinobu ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 54 (2007-12-01), S. 2706-2713
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    A technique for the investigation of deep levels on irradiated silicon based on the Lazarus effect
    Li, Zheng ; Verbitskaya, E. M. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 51 (2004-12-01), S. 3069-3075
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    Minimum Ionizing and Alpha Particles Detectors Based on Epitaxial Semiconductor Silicon Carbide
    Bruzzi, Mara ; Lanzieri, Claudio ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 51 (2004-02-01), S. 238-244
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    Influence of trapping on silicon microstrip detector design and performance
    Zavrtanik, M. ; Kramberger, Gregor ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 49 (2002-08-01), S. 1717-1723
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    Enhanced Energy Resolution of GaN-on-Sapphire p-i-n Alpha-Particle Detector With Isoelectronic Al-Doped i-GaN Layer
    Liang, Hongwei ; Geng, Xinlei ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 68 (2021-08-01), S. 2301-2308
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    Analysis of uniformity of as prepared and irradiated SI GaAs radiation detectors
    Polesello, P. ; Egeni, G.P. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 45 (1998-06-01), S. 609-616
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    Charge collection and noise analysis of heavily irradiated silicon detectors
    Pirollo, S. ; Borchi, E. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 45 (1998-04-01), S. 141-145
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    Improved performance of GaAs radiation detectors with low ohmic contacts
    Maria Evelina Fantacci ; Vanni, P. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 44 (1997-06-01), S. 943-949
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    Schottky junctions on semi-insulating LEC gallium arsenide for X- and /spl gamma/-ray spectrometers operated at and below room temperature
    Lanzieri, Claudio ; Nava, Filippo ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 44 (1997-04-01), S. 117-124
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    Effects of Defects to the Performance of CdTe Pad Detectors in IBIC Measurements
    Litichevskyi, Vladyslav ; Brücken, Erik ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 66 (2019-05-01), S. 846-851
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    Characterization of an Innovative p-type Epitaxial Diode for Dosimetry in Modern External Beam Radiotherapy
    Petasecca, Marco ; Alshaikh, S. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 60 (2013-12-01), S. 4705-4712
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    A Cylindrical Silicon-on-Insulator Microdosimeter: Charge Collection Characteristics
    Siegele, Rainer ; Prokopovich, Dale A. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 55 (2008-12-01), S. 3414-3420
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