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    Vision-Based 40-nm-Accuracy Liquid Level Detection Compliant With Micromanipulation
    Zhao, Peng ; Feng, Yongxiang ; et al.
    In: IEEE Transactions on Industrial Electronics, Jg. 69 (2022-08-01), S. 8535-8544
    Online unknown
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    Optimization of the Energy Window for PETbox4, a Preclinical PET Tomograph With a Small Inner Diameter
    Chatziioannou, Arion F. ; Taschereau, Richard ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 61 (2014-06-01), S. 1164-1173
    Online unknown
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    Monte Carlo Analysis of Silicon Carbide Neutron Detector With Double Conversion Layer
    Chen, Size ; Wang, Ying ; et al.
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 21 (2021-09-15), S. 20145-20155
    Online unknown
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    Evaluation of low energy threshold settings for PVI PET systems
    Miyaoka, R.M. ; Lewellen, Thomas K. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 46 (1999-12-01), S. 2141-2145
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    Application of the encapsulated actuator model to the sequential control of machines
    Masuda, S. ; Kamiyama, K. ; et al.
    In: IEEE/ASME Transactions on Mechatronics, Jg. 1 (1996), S. 290-294
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    Comparing ladder logic diagrams and Petri nets for sequence controller design through a discrete manufacturing system
    Zhou, MengChu ; Venkatesh, Kurapati ; et al.
    In: IEEE Transactions on Industrial Electronics, Jg. 41 (1994-12-01), S. 611-619
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    Effect of lead filters on the performance of a neuro-PET tomograph operated without septa
    Spinks, Terry J. ; Shah, S.I.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 40 (1993-08-01), S. 1087-1091
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    Clustering-Based Denoising With Locally Learned Dictionaries
    Milanfar, Peyman ; Chatterjee, Priyam
    In: IEEE Transactions on Image Processing, Jg. 18 (2009-07-01), S. 1438-1451
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    VIA-6 novel low-loss and high speed diode utilizing an 'IDEAL' ohmic contact
    Mizushima, Yoshihiko ; Amemiya, Yoshihito ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 28 (1981-10-01), S. 1256-1257
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    Bipolar-mode Schottky contact and applications to high-speed diodes
    Amemiya, Y. ; Mizushima, Y.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 31 (1984), S. 35-42
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    A 23-ns 256 K EPROM with double-layer metal and address transition detection
    Arreola, J.I. ; Tsao, Shou-chang ; et al.
    In: IEEE Journal of Solid-State Circuits, Jg. 24 (1989-10-01), S. 1250-1258
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    The influence of electric field and mobility profile on GaAs MESFET characteristics
    Arch, D.K. ; Chen, Chung-Hsu
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 36 (1989-11-01), S. 2405-2414
    Online unknown
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