Zum Hauptinhalt springen
UB Hagen

Suchergebnisse

UB Katalog

Artikel & mehr
200 Treffer

Suchmaske

Suchtipp für den Bereich Artikel & mehr: Wörter werden automatisch mit UND verknüpft. Eine ODER-Verknüpfung erreicht man mit dem Zeichen "|", eine NICHT-Verknüpfung mit einem "-" (Minus) vor einem Wort. Anführungszeichen ermöglichen eine Phrasensuche.
Beispiele: (burg | schloss) -mittelalter, "berufliche bildung"

Das folgende Suchfeld wird hier nicht unterstützt: "Signatur / Strichcode".

Suchergebnisse einschränken oder erweitern

Aktive Suchfilter

Erscheinungszeitraum

Mehr Treffer

Weniger Treffer

Gefunden in

Schlagwort

Publikation

Sprache

200 Treffer

Sortierung: 
  1. Detailansicht für Treffer 1 öffnen
    Prospects for Wide Bandgap and Ultrawide Bandgap CMOS Devices
    Han Wui Then ; Hickman, Austin ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 67 (2020-10-01), S. 4010-4020
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    The State of the Art in CMOS VCOs: Mm-Wave VCOs in Advanced CMOS Technology Nodes
    Issakov, Vadim
    In: IEEE Microwave Magazine, Jg. 20 (2019-12-01), S. 59-71
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Adjoint Optimization of Efficient CMOS-Compatible Si-SiN Vertical Grating Couplers for DWDM Applications
    Mathai, Sagi ; Huang, Zhihong ; et al.
    In: Journal of Lightwave Technology, Jg. 38 (2020-07-01), S. 3422-3430
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Statistical Behavioral Models of Silicon Ring Resonators at a Commercial CMOS Foundry
    Baudot, Charles ; Boeuf, Frederic ; et al.
    In: IEEE Journal of Selected Topics in Quantum Electronics, Jg. 26 (2020-03-01), S. 1-10
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    An Integrated SiC CMOS Gate Driver for Power Module Integration
    H. Alan Mantooth ; Ahmed, Shamim ; et al.
    In: IEEE Transactions on Power Electronics, Jg. 34 (2019-11-01), S. 11191-11198
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    A CMOS Temperature Sensor With Versatile Readout Scheme and High Accuracy for Multi-Sensor Systems
    Tang, Zhong ; Yu, Xiaopeng ; et al.
    In: IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Regular Papers, Jg. 65 (2018-11-01), S. 3821-3829
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Silicon Diode Uncooled FPA With Three-Dimensional Integrated CMOS Readout Circuits
    Wu, Dong ; Xue, Xingjun ; et al.
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 19 (2019-01-15), S. 426-434
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    A Compact, Low Jitter, CMOS 65 nm 4.8–6 GHz Phase-Locked Loop for Applications in HEP Experiments Front-End Electronics
    Panati, Serena ; Mazza, Giovanni
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 65 (2018-05-01), S. 1212-1217
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Analysis of Gate-Metal Resistance in CMOS-Compatible RF GaN HEMTs
    Alian, A. ; Waldron, Niamh ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 67 (2020-11-01), S. 4592-4596
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    GAAFET Versus Pragmatic FinFET at the 5nm Si-Based CMOS Technology Node
    Fossum, Jerry G. ; Huang, Ya-Chi ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 5 (2017-05-01), S. 164-169
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Low-Leakage Bidirectional SCR With Symmetrical Trigger Circuit for ESD Protection in 40-nm CMOS Process
    Altolaguirre, Federico A. ; Ker, Ming-Dou
    In: IEEE Transactions on Device and Materials Reliability, Jg. 16 (2016-12-01), S. 549-555
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Integration of Boron-Doped Diamond Microelectrode on CMOS-Based Amperometric Sensor Array by Film Transfer Technology
    Nakano, Masanori ; Matsue, Tomokazu ; et al.
    In: Journal of Microelectromechanical Systems, Jg. 24 (2015-08-01), S. 958-967
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    High-Temperature Voltage and Current References in Silicon Carbide CMOS
    Francis, A. M. ; Holmes, Jim ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 63 (2016-06-01), S. 2455-2461
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    CMOS-Compatible Wearable Sensors Fabricated Using Controlled Spalling
    Webb, Bucknell C. ; Marlon, Agno ; et al.
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 19 (2019-09-15), S. 7868-7874
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Static and Dynamic Oxide-Trapped- Charge-Induced Variability in Nanoscale CMOS Circuits
    Zebrev, Gennady I.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 66 (2019-06-01), S. 2483-2488
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Field Oxide n-channel MOS Dosimeters Fabricated in CMOS Processes
    Carra, M. J. ; Carbonetto, S. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 60 (2013-12-01), S. 4683-4691
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Post-CMOS and Post-MEMS Compatible Flexible Skin Technologies: A Review
    Xu, Yong
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 13 (2013-10-01), S. 3962-3975
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Carbon Nanotube-Based CMOS Gas Sensor IC: Monolithic Integration of Pd Decorated Carbon Nanotube Network on a CMOS Chip and Its Hydrogen Sensing
    Seok Hyang Kim ; Chung, In-Young ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 58 (2011-10-01), S. 3604-3608
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Manufacturing Challenges of GaN-on-Si HEMTs in a 200 mm CMOS Fab
    Halder, Sandip ; B. De Jaeger ; et al.
    In: IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, Jg. 26 (2013-08-01), S. 361-367
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Impact of Neutron-Induced Displacement Damage on the Multiple Bit Upset Sensitivity of a Bulk CMOS SRAM
    Howard, A. ; Gadlage, Matthew J. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 59 (2012-12-01), S. 2722-2728
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -