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    Temperature Dependency of Driving Current in High-k/Metal Gate MOSFET and Its Influence on CMOS Inverter Circuit
    Imamoto, Takuya ; Sasaki, Takeshi ; et al.
    In: IEICE Transactions on Electronics, 2011, S. 751-759
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
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    CMOS Cascode Source-Drain Follower for Monolithically Integrated Biosensor Array
    Nakazato, Kazuo ; Ohura, Mitsuo ; et al.
    In: IEICE Transactions on Electronics, 2008-09-01, S. 1505-1515
    Online unknown
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
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    A linear CMOS temperature sensor with an inaccuracy of ±0.15°C
    Chun Wei Lin ; Sheng Feng Lin
    In: IEICE Electronics Express, Jg. 9 (2012), S. 1556-1561
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
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    A Temperature and Supply Voltage Independent CMOS Voltage Reference Circuit
    Iwata, Hideyuki ; Nakajima, Shigeki ; et al.
    In: IEICE Transactions on Electronics, 2005-05-01, S. 1087-1093
    Online unknown
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
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    On-Chip In-Place Measurements of Vth and Signal/Substrate Response of Differential Pair Transistors
    Mogami, Tohru ; Takaya, Satoshi ; et al.
    In: IEICE Transactions on Electronics, 2012, S. 137-145
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Impact of the double-patterning technique on the LER-induced threshold voltage variation in symmetric tunnel field-effect transistor
    Park, Seulki ; Shin, Changhwan ; et al.
    In: IEICE Electronics Express, Jg. 12 (2015), S. 20150349-20150349
    Online unknown
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    FN Stress Induced Degradation on Random Telegraph Signal Noise in Deep Submicron NMOSFETs
    Yoon, Youngchang ; Lee, Hochul ; et al.
    In: IEICE Transactions on Electronics, 2008-05-01, S. 776-779
    Online unknown
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
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