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  1. Bayer, F.M. ; Cintra, R.J.
    In: Electronics Letters (Institution of Engineering & Technology), Jg. 48 (2012-07-19), Heft 15, S. 919-921
    academicJournal
  2. Lecuire, V. ; Makkaoui, L. ; et al.
    In: Electronics Letters (Institution of Engineering & Technology), Jg. 48 (2012-01-19), Heft 2, S. 125-127
    academicJournal
  3. Aggoun, A. ; Jalloh, I.
    In: IEE Proceedings -- Computers & Digital Techniques, Jg. 150 (2003), Heft 1, S. 2-10
    Online academicJournal
  4. Zhao, Y. ; Cheng, G. ; et al.
    In: Electronics Letters (Institution of Engineering & Technology), Jg. 40 (2004-09-16), Heft 19, S. 1175-1176
    academicJournal
  5. Dimitrov, V. ; Jullien, G.A.
    In: Electronics Letters (Institution of Engineering & Technology), Jg. 39 (2003-04-03), Heft 7, S. 602-603
    academicJournal
  6. Wang, Y L. ; Wang, J. X. ; et al.
    In: IET Image Processing (Institution of Engineering & Technology), Jg. 5 (2011-02-01), Heft 1, S. 55-62
    academicJournal
  7. Bendifallah, A. ; Benzid, R. ; et al.
    In: Electronics Letters (Institution of Engineering & Technology), Jg. 47 (2011-01-20), Heft 2, S. 87-89
    academicJournal
  8. Zhang, W. C. ; Wang, Y. F. ; et al.
    In: IET Image Processing (Institution of Engineering & Technology), Jg. 2 (2008-08-01), Heft 4, S. 194-202
    academicJournal
  9. Taylor, G. S. ; Blair, G. M.
    In: IEE Proceedings -- Computers & Digital Techniques, Jg. 145 (1998-03-01), Heft 2, S. 127-133
    academicJournal
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