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    Structuring meaningful bug‐fixing patches to fix software defect
    Li, Hui ; Liu, Yong ; et al.
    In: IET software, Jg. 17 (2023), Heft 4, S. 566-581
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
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    Structuring meaningful bug‐fixing patches to fix software defect
    Li, Hui ; Liu, Yong ; et al.
    In: IET software, Jg. 17 (2023), Heft 4, S. 566-581
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
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    Structuring meaningful bug‐fixing patches to fix software defect
    Li, Hui ; Liu, Yong ; et al.
    In: IET software, Jg. 17 (2023), Heft 4, S. 566-581
    Online serialPeriodical
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
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    An approach of method‐level bug localization
    Ni, Zhen ; Bo, Lili ; et al.
    In: IET software, Jg. 16 (2022), Heft 4, S. 422-437
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    An approach of method‐level bug localization
    Ni, Zhen ; Bo, Lili ; et al.
    In: IET software, Jg. 16 (2022), Heft 4, S. 422-437
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
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    Investigating the information value of different sources of evidence of developers' expertise for bug assignment in open‐source projects
    Sajedi‐Badashian, Ali ; Stroulia, Eleni
    In: IET software, Jg. 14 (2020), Heft 7, S. 748-758
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
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    Predicting the bug fixing time using word embedding and deep long short term memories
    Sepahvand, Reza ; Akbari, Reza ; et al.
    In: IET software, Jg. 14 (2020), Heft 3, S. 203-212
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Predicting the bug fixing time using word embedding and deep long short term memories
    Sepahvand, Reza ; Akbari, Reza ; et al.
    In: IET software, Jg. 14 (2020), Heft 3, S. 203-212
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Predicting the bug fixing time using word embedding and deep long short term memories
    Sepahvand, Reza ; Akbari, Reza ; et al.
    In: IET software, Jg. 14 (2020), Heft 3, S. 203-212
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Auction‐based serious game for bug tracking
    Üsfekes, Çağdaş ; Tüzün, Eray ; et al.
    In: IET software, Jg. 13 (2019), Heft 5, S. 386-392
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Auction‐based serious game for bug tracking
    Üsfekes, Çağdaş ; Tüzün, Eray ; et al.
    In: IET software, Jg. 13 (2019), Heft 5, S. 386-392
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Auction-based serious game for bug tracking
    Üsfekes, Çağdaş ; Tüzün, Eray ; et al.
    In: IET software, Jg. 13 (2019), Heft 5, S. 386-392
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    SamEn‐SVR: using sample entropy and support vector regression for bug number prediction
    Zhang, Wen ; Du, Yuhang ; et al.
    In: IET software, Jg. 12 (2018), Heft 3, S. 183-189
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Discover deeper bugs with dynamic symbolic execution and coverage‐based fuzz testing
    Zhang, Bin ; Feng, Chao ; et al.
    In: IET software, Jg. 12 (2018), Heft 6, S. 507-519
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Empirical study on developer factors affecting tossing path length of bug reports
    Wu, Hongrun ; Liu, Haiyang ; et al.
    In: IET software, Jg. 12 (2018), Heft 3, S. 258-270
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Discover deeper bugs with dynamic symbolic execution and coverage‐based fuzz testing
    Zhang, Bin ; Feng, Chao ; et al.
    In: IET software, Jg. 12 (2018), Heft 6, S. 507-519
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Empirical study on developer factors affecting tossing path length of bug reports
    Wu, Hongrun ; Liu, Haiyang ; et al.
    In: IET software, Jg. 12 (2018), Heft 3, S. 258-270
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    SamEn‐SVR: using sample entropy and support vector regression for bug number prediction
    Zhang, Wen ; Du, Yuhang ; et al.
    In: IET software, Jg. 12 (2018), Heft 3, S. 183-189
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Discover deeper bugs with dynamic symbolic execution and coverage-based fuzz testing
    Zhang, Bin ; Feng, Chao ; et al.
    In: IET software, Jg. 12 (2018), Heft 6, S. 507-519
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    SamEn-SVR: using sample entropy and support vector regression for bug number prediction
    Zhang, W. ; Du, Y. ; et al.
    In: IET SOFTWARE, Jg. 12 (2018), Heft 3, S. 183-189
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
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