Zum Hauptinhalt springen
UB Hagen

Suchergebnisse

UB Katalog

Artikel & mehr
21 Treffer

Suchmaske

Suchtipp für den Bereich Artikel & mehr: Wörter werden automatisch mit UND verknüpft. Eine ODER-Verknüpfung erreicht man mit dem Zeichen "|", eine NICHT-Verknüpfung mit einem "-" (Minus) vor einem Wort. Anführungszeichen ermöglichen eine Phrasensuche.
Beispiele: (burg | schloss) -mittelalter, "berufliche bildung"

Das folgende Suchfeld wird hier nicht unterstützt: "Signatur / Strichcode".

Suchergebnisse einschränken oder erweitern

Aktive Suchfilter

Erscheinungszeitraum

Mehr Treffer

Weniger Treffer

Gefunden in

Art der Quelle

Schlagwort

Publikation

Sprache

21 Treffer

Sortierung: 
  1. Detailansicht für Treffer 1 öffnen
    Alpha-particle-induced upsets in advanced CMOS circuits and technology
    HEIDEL, D. F ; RODBELL, K. P ; et al.
    In: Soft errors in circuits and systems, Jg. 52 (2008), Heft 3, S. 225-232
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    CMOS floating-point unit for the S/390 parallel enterprise server G4
    SCHWARZ, E. M ; SIGAL, L ; et al.
    In: IBM journal of research and development, Jg. 41 (1997), Heft 4/5, S. 475-488
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Circuit design techniques for the high-performance cmos IBM S/390 parallel enterprise Server G4 microprocessor
    SIGAL, L ; WARNOCK, J. D ; et al.
    In: IBM journal of research and development, Jg. 41 (1997), Heft 4/5, S. 489-503
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Functional verification of the CMOS S/390 Parallel enterprise server G4 system
    WILE, B ; MULLEN, M. P ; et al.
    In: IBM journal of research and development, Jg. 41 (1997), Heft 4/5, S. 549-566
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    A single-chip IBM System/390 floating-point processor in CMOS
    DAO-TONG, S ; HELWIG, K
    In: IBM journal of research and development, Jg. 36 (1992), Heft 4, S. 733-749
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Design for testability and diagnosis in a VLSI CMOS system/370 processor
    STARKE, C. W
    In: IBM journal of research and development, Jg. 34 (1990), Heft 2-3, S. 355-362
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Study of contact and shallow junction characteristics in submicron CMOS with self-aligned titanium silicide
    TAUR, Y ; DAVARI, B ; et al.
    In: IBM journal of research and development, Jg. 31 (1987), Heft 6, S. 627-633
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    A CMOS LSSD test generation system
    LEET, D ; SHEARON, P ; et al.
    In: IBM journal of research and development, Jg. 28 (1984), Heft 5, S. 625-635
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Architecture, design, and operating characteristics of a 12-ns CMOS functional cache chip
    MATICK, R ; MAO, R ; et al.
    In: IBM journal of research and development, Jg. 33 (1989), Heft 5, S. 524-539
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Design methods for attaining IBM System z9 processor cycle-time goals
    MAYER, G ; DOETTLING, G ; et al.
    In: IBM System z9, Jg. 51 (2007), Heft 1-2, S. 19-35
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    IC technology and ASIC design for the Cray J90 supercomputer
    POLI, D. J ; BERRY, M. S ; et al.
    In: IBM journal of research and development, Jg. 40 (1996), Heft 4, S. 475-483
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Transition-metal-oxide-based resistance-change memories
    KARG, S. F ; MEIJER, G. I ; et al.
    In: Storages technologies and systems, Jg. 52 (2008), Heft 4-5, S. 481-492
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    SEMM-2 : A new generation of single-event-effect modeling tools
    TANG, H. H. K
    In: Soft errors in circuits and systems, Jg. 52 (2008), Heft 3, S. 233-244
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    New simulation methodology for effects of radiation in semiconductor chip structures
    TANG, H. H. K ; MURRAY, C. E ; et al.
    In: Soft errors in circuits and systems, Jg. 52 (2008), Heft 3, S. 245-253
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Fabrication and characterization of robust through-silicon vias for silicon-carrier applications
    ANDRY, P. S ; TSANG, C. K ; et al.
    In: 3D chip technology, Jg. 52 (2008), Heft 6, S. 571-581
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Power-constrained high-frequency circuits for the IBM POWER6 microprocessor
    CURRAN, B ; FLUHR, E ; et al.
    In: IBM POWER6 Microprocessor Technology, Jg. 51 (2007), Heft 6, S. 715-731
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    A fast hardware data compression algorithm and some algorithmic extensions : Papers on data compression in ASIC cores
    CRAFT, D. J
    In: IBM journal of research and development, Jg. 42 (1998), Heft 6, S. 733-745
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Standard-cell-based design methodology for high-performance support chips
    KICK, B ; BAUR, U ; et al.
    In: IBM journal of research and development, Jg. 41 (1997), Heft 4/5, S. 505-514
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Designer-level verification using timediag/genrand
    WILE, B
    In: IBM journal of research and development, Jg. 41 (1997), Heft 4/5, S. 581-591
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    PowerPC AS A10 64-bit RISC microprocessor
    BISHOP, J. W ; CAMPION, M. J ; et al.
    In: IBM journal of research and development, Jg. 40 (1996), Heft 4, S. 495-505
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -