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    Alpha-particle-induced upsets in advanced CMOS circuits and technology
    HEIDEL, D. F ; RODBELL, K. P ; et al.
    In: Soft errors in circuits and systems, Jg. 52 (2008), Heft 3, S. 225-232
    Online academicJournal
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    CMOS floating-point unit for the S/390 parallel enterprise server G4
    SCHWARZ, E. M ; SIGAL, L ; et al.
    In: IBM journal of research and development, Jg. 41 (1997), Heft 4/5, S. 475-488
    Online academicJournal
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    Volltext
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    A highfrequency custom CMOS S/390 microprocessor
    WEBB, C. F ; LIPTAY, J. S
    In: IBM journal of research and development, Jg. 41 (1997), Heft 4/5, S. 463-473
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    S/390 cmos server I/O : The continuing evolution
    GREGG, T. A
    In: IBM journal of research and development, Jg. 41 (1997), Heft 4/5, S. 449-462
    Online academicJournal
    Zugriff:
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    Circuit design techniques for the high-performance cmos IBM S/390 parallel enterprise Server G4 microprocessor
    SIGAL, L ; WARNOCK, J. D ; et al.
    In: IBM journal of research and development, Jg. 41 (1997), Heft 4/5, S. 489-503
    Online academicJournal
    Zugriff:
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    Functional verification of the CMOS S/390 Parallel enterprise server G4 system
    WILE, B ; MULLEN, M. P ; et al.
    In: IBM journal of research and development, Jg. 41 (1997), Heft 4/5, S. 549-566
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    A single-chip IBM System/390 floating-point processor in CMOS
    DAO-TONG, S ; HELWIG, K
    In: IBM journal of research and development, Jg. 36 (1992), Heft 4, S. 733-749
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    A 128Kb CMOS static random-access memory
    CHU, J. L ; TORABI, H. R ; et al.
    In: IBM journal of research and development, Jg. 35 (1991), Heft 3, S. 321-329
    Online academicJournal
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    Volltext
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    Gross delay defect evaluation for a CMOS logic design system product
    BULA, O ; MOSER, J ; et al.
    In: IBM journal of research and development, Jg. 34 (1990), Heft 2-3, S. 325-338
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Design for testability and diagnosis in a VLSI CMOS system/370 processor
    STARKE, C. W
    In: IBM journal of research and development, Jg. 34 (1990), Heft 2-3, S. 355-362
    Online academicJournal
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  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Study of contact and shallow junction characteristics in submicron CMOS with self-aligned titanium silicide
    TAUR, Y ; DAVARI, B ; et al.
    In: IBM journal of research and development, Jg. 31 (1987), Heft 6, S. 627-633
    Online academicJournal
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    Volltext
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    A CMOS LSSD test generation system
    LEET, D ; SHEARON, P ; et al.
    In: IBM journal of research and development, Jg. 28 (1984), Heft 5, S. 625-635
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Architecture, design, and operating characteristics of a 12-ns CMOS functional cache chip
    MATICK, R ; MAO, R ; et al.
    In: IBM journal of research and development, Jg. 33 (1989), Heft 5, S. 524-539
    Online academicJournal
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Analysis of the holding current in CMOS latch-up
    MATINO, H
    In: IBM journal of research and development, Jg. 29 (1985), Heft 6, S. 588-592
    Online academicJournal
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Design methods for attaining IBM System z9 processor cycle-time goals
    MAYER, G ; DOETTLING, G ; et al.
    In: IBM System z9, Jg. 51 (2007), Heft 1-2, S. 19-35
    Online academicJournal
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    Volltext
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    On-chip metallization layers for reflective light valves
    COLGAN, E. G ; UDA, M
    In: IBM journal of research and development, Jg. 42 (1998), Heft 3-4, S. 339-345
    Online academicJournal
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Charge-metering sampling circuits and their applications
    SCHLIG, E. S
    In: IBM journal of research and development, Jg. 40 (1996), Heft 6, S. 631-640
    Online academicJournal
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    IC technology and ASIC design for the Cray J90 supercomputer
    POLI, D. J ; BERRY, M. S ; et al.
    In: IBM journal of research and development, Jg. 40 (1996), Heft 4, S. 475-483
    Online academicJournal
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    Volltext
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Transition-metal-oxide-based resistance-change memories
    KARG, S. F ; MEIJER, G. I ; et al.
    In: Storages technologies and systems, Jg. 52 (2008), Heft 4-5, S. 481-492
    Online academicJournal
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    Volltext
    Wie komme ich dran?
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    SEMM-2 : A new generation of single-event-effect modeling tools
    TANG, H. H. K
    In: Soft errors in circuits and systems, Jg. 52 (2008), Heft 3, S. 233-244
    Online academicJournal
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    Wie komme ich dran?
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