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    Broadband (>200 nm) spectrally flat and high power density (>0 dBm/nm) light source for fiber sensing purposes [5855-212] : 17th International Conference on Optical Fibre Sensors
    Herraez, M. G. ; Martin-Lopez, S. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 5855 (2005), Heft 2, S. 864-867
    serialPeriodical
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    A bridge structural health monitoring information system based on GIS and DBMS [5765-112]
    Shi, W. Z. ; Ko, J. M. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 5765 (2005), Heft 2, S. 1012-1020
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
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    Comparison of student's t-test and the Dorfman-Berbaum-Metz (DBM) method for the statistical comparison of competing diagnostic modalities [4686-25] : Medical Imaging 2002 Image Perception, Observer Performance, and Technology Assessment
    Jiang, Y.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, 2002, Heft 4686, S. 205-209
    serialPeriodical
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    A novel methodology for building robust design rules by using design based metrology (DBM) [8684-5] : Design for Manufacturability through Design-Process Integration VII
    Lee, M. ; Choi, S. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 8684 (2013), S. 8684 0Q
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
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    Application of DBM tool for detection of EUV mask defect [8681-16] : Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography XXVII
    Yoo, G. ; Kim, J. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 8681 (2013), Heft 2, S. 8681 21
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
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    Application of DBM system to overlay verification and wiggling quantification for advanced process [8324-45] : Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography XXVI
    Lee, T. ; Kim, J. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 8324 (2012), Heft 1, S. 8324 1B
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
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    Study on design rule verification procedure of semiconductor memory devices by using design based metrology (DBM) [8166-22] : Photomask Technology 2011
    Jeong, J. ; Choi, S. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 8166 (2011), Heft 1, S. 8166 0Y
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
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    Effect of registration on corpus callosum population differences found with DBM analysis [7965-23] : Medical Imaging 2011 Biomedical Applications in Molecular, Structural, and Functional Imaging
    Han, Z. ; Thornton-Wells, T.A. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 7965 (2011), S. 7965 0O
    serialPeriodical
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    Analysis of clustering in Eu(DBM)~3 phen-doped polymer optical fiber by effective-medium approximation [7847-64] : Optoelectronic Devices and Integration III
    Feng, Z. ; Zheng, Z. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 7847 (2010), S. 7847 1T
    serialPeriodical
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    Novel process proximity correction by the pattern-to-pattern matching method with DBM [7140-129] : Lithography Asia 2008
    Park, D. ; Choi, J. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 7140 (2008), Heft 2, S. 7140 3K
    serialPeriodical
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    The APC (Advanced Process Control) procedure for process window and CDU improvement using DBMs [7140-125] : Lithography Asia 2008
    Kim, J. ; Lee, T. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 7140 (2008), Heft 2, S. 7140 3G
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
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    Statistics analysis embedded in spatial DBMS [6421-35] : Geospatial Information Technology
    Chen, R. ; Chen, S.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 6421 (2006), S. 642110-642110
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
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