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    34.1Gbps low jitter, low BER high-speed parallel CMOS interface for interconnections in high-speed memory test system
    WATANABE, Daisuke ; SUDA, Masakatsu ; et al.
    In: International Test Conference 2004 (October 26-October 28, 2004, S. 1255-1262
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Testing high resolution ADCs with low resolution/accuracy deterministic dynamic element matched DACs
    HANJUN, JIANG ; OLLETA, Beatriz ; et al.
    In: International Test Conference 2004 (October 26-October 28, 2004, S. 1379-1388
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Low overhead delay testing of asics
    GILLIS, Pamela ; MCCAULEY, Kevin ; et al.
    In: International Test Conference 2004 (October 26-October 28, 2004, S. 534-542
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Low cost concurrent error detection for the advanced encryption standard
    KAIJIE, WU ; KARRI, Ramesh ; et al.
    In: International Test Conference 2004 (October 26-October 28, 2004, S. 1242-1248
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Future trends in test : The adoption and use of low cost structural testers
    CROUCH, Alfred L
    In: International Test Conference 2004 (October 26-October 28, 2004, S. 698-703
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    A design for test technique for parametric analysis of SRAM : On-die low yield analysis
    MAUCK, Benjamin M ; RAVICHANDRAN, Vishnumohan ; et al.
    In: International Test Conference 2004 (October 26-October 28, 2004, S. 105-113
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Architectures of increased availability wireless sensor network nodes
    MAN WAH, CHIANG ; ZILIC, Zeljko ; et al.
    In: International Test Conference 2004 (October 26-October 28, 2004, S. 1232-1241
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Systematic defects in deep sub-micron technologies
    KRUSEMAN, Bram ; MAJHI, Ananta ; et al.
    In: International Test Conference 2004 (October 26-October 28, 2004, S. 290-299
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    IEEE std 1149.6 implementation for a XAUI-to-serial 10-gbps transceiver
    SHAIKH, Saghir A
    In: International Test Conference 2004 (October 26-October 28, 2004, S. 543-550
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    X-masking during logic BIST and its impact on defect coverage
    YUYI, TANG ; WUNDERLICH, Hans-Joachim ; et al.
    In: International Test Conference 2004 (October 26-October 28, 2004, S. 442-451
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Use of embedded sensors for built-in-test of RF circuits
    BHATTACHARYA, Soumendu ; CHATTERJEE, Abhijit
    In: International Test Conference 2004 (October 26-October 28, 2004, S. 801-809
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Data compression for multiple scan chains using dictionaries with corrections
    WÜRTENBERGER, Armin ; TAUTERMANN, Christofer S ; et al.
    In: International Test Conference 2004 (October 26-October 28, 2004, S. 926-935
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    A frequency mixing and sub-sampling based rf-measurement apparatus for IEEE 1149.4
    HAKKINEN, Juha ; SYRI, Pekka ; et al.
    In: International Test Conference 2004 (October 26-October 28, 2004, S. 551-559
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Test cost reduction through a reconfigurable scan architecture
    ARSLAN, Bans ; ORAILOGLU, Alex
    In: International Test Conference 2004 (October 26-October 28, 2004, S. 945-952
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Spectral analysis for statistical response compaction during built-in self-testing
    KHAN, Omar ; BUSHNELL, Michael L
    In: International Test Conference 2004 (October 26-October 28, 2004, S. 67-76
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Removing JTAG bottlenecks in system interconnect test
    JUN, Hong-Shin ; CHUNG, Sung S ; et al.
    In: International Test Conference 2004 (October 26-October 28, 2004, S. 173-180
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Performance characterization of mixed-signal circuits using a ternary signal representation
    YU, Hak-Soo ; SHIN, Hongjoong ; et al.
    In: International Test Conference 2004 (October 26-October 28, 2004, S. 1389-1397
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    On-line testing field programmable analog array circuits
    HAIBO, WANG ; KULKARNI, Suchitra ; et al.
    In: International Test Conference 2004 (October 26-October 28, 2004, S. 1340-1348
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Localizing open interconnect defects using targeted routing in FPGA's
    MARK, Dave ; FAN, Jenny
    In: International Test Conference 2004 (October 26-October 28, 2004, S. 627-634
    Konferenz
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    IPv6 conformance testing : Theory and practice
    YUJUN, ZHANG ; ZHONGCHENG, LI
    In: International Test Conference 2004 (October 26-October 28, 2004, S. 719-727
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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