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    Realization of wafer-scale single-crystalline GaN film on CMOS-compatible Si(100) substrate by ion-cutting technique.
    Shi, Hangning ; Huang, Kai ; et al.
    In: Semiconductor Science & Technology, Jg. 35 (2020-12-01), Heft 12, S. 1-8
    Online academicJournal
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    Review--System-on-Chip SMO Gas Sensor Integration in Advanced CMOS Technology.
    Filipovic, Lado ; Lahlalia, Ayoub
    In: Journal of The Electrochemical Society, Jg. 165 (2018-12-15), Heft 16, S. B862- (18S.)
    academicJournal
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    Magnetic-Particle-Composite-Medium-Filled Stacked-Spiral Inductors for Radio-Frequency CMOS Applications.
    Jing, Zhan ; Hua-Lin, Cai ; et al.
    In: Chinese Physics Letters, Jg. 30 (2013-12-01), Heft 12, S. 128401-128405
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
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    Packaged CMOS–MEMS free–free beam oscillator.
    Marigó, E ; Verd, J ; et al.
    In: Journal of Micromechanics & Microengineering, Jg. 23 (2013-11-01), Heft 11, S. 115018-115027
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
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    Indium bump array fabrication on small CMOS circuit for flip-chip bonding
    Lifeng, Bian ; Yuyang, Huang ; et al.
    In: Journal of Semiconductors, Jg. 32 (2011-11-01), S. 115014-115014
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
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    Recent advance in high manufacturing readiness level and high temperature CMOS mixed-signal integrated circuits on silicon carbide.
    M H Weng ; D T Clark ; et al.
    In: Semiconductor Science & Technology, Jg. 32 (2017-05-01), Heft 5, S. 1-1
    Online academicJournal
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    A novel STI etching technology to mitigate an inverse narrow width effect, and improve device performances for 90 nm node and beyond CMOS technology.
    Chiu, H. Y. ; Fang, Y. K. ; et al.
    In: Semiconductor Science & Technology, Jg. 22 (2007-10-01), Heft 10, S. 1157-1160
    Online academicJournal
    Zugriff:
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    Hybrid Josephson-CMOS memory: a solution for the Josephson memory problem.
    Van Duzer, Theodore ; Feng, Yijun ; et al.
    In: Superconductor Science & Technology, Jg. 15 (2002-12-01), Heft 12, S. 1669-1674
    Online academicJournal
    Zugriff:
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    Two experimental methods to characterize load capacitance of a CMOS gate.
    Chen, Kai ; Hu, Chenming ; et al.
    In: Semiconductor Science & Technology, Jg. 13 (1998-07-01), Heft 7, S. 773-775
    Online academicJournal
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    Evaluation of strained Si/SiGe material for high performance CMOS.
    Olsen, S. H. ; O'Neill, A. G. ; et al.
    In: Semiconductor Science & Technology, Jg. 19 (2004-06-01), Heft 6, S. 707-714
    Online academicJournal
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    Film thickness constraints for manufacturable strained silicon CMOS.
    Fiorenza, J. G. ; Braithwaite, G. ; et al.
    In: Semiconductor Science & Technology, Jg. 19 (2004), Heft 1, S. L4- (5S.)
    Online academicJournal
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    CCII based low voltage CMOS current sources for space plasma probes.
    Rajput, S. S. ; Jamuar, S. S.
    In: Measurement Science & Technology, Jg. 12 (2001-12-01), Heft 12, S. N39- (4S.)
    Online academicJournal
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    Extrinsic gate capacitance compact model for UTBB MOSFETs.
    Andrea G Martinez-Lopez ; Julio C Tinoco ; et al.
    In: Semiconductor Science & Technology, Jg. 33 (2018), Heft 1, S. 1-1
    Online academicJournal
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    Spike-timing dependent plasticity in a transistor-selected resistive switching memory.
    Ambrogio, S ; Balatti, S ; et al.
    In: Nanotechnology, Jg. 24 (2013-09-27), Heft 38, S. 384012-384020
    Online academicJournal
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Nanoscale resistive switching memory devices: a review.
    Slesazeck, Stefan ; Mikolajick, Thomas
    In: Nanotechnology, Jg. 30 (2019-08-30), Heft 35, S. 1-1
    academicJournal
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    A review of micromachined thermal accelerometers.
    Mukherjee, Rahul ; Basu, Joydeep ; et al.
    In: Journal of Micromechanics & Microengineering, Jg. 27 (2017-12-01), Heft 12, S. 1-1
    academicJournal
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    Influence of Tilted Angle on Effective Linear Energy Transfer in Single Event Effect Tests for Integrated Circuits at 130 nm Technology Node.
    Zhang, Le-Qing ; Lu, Jian ; et al.
    In: Chinese Physics Letters, Jg. 34 (2017-11-01), Heft 11, S. 1-1
    academicJournal
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    Si/SiGe heterostructures: from material and physics to devices and circuits.
    Paul, Douglas J.
    In: Semiconductor Science & Technology, Jg. 19 (2004-10-01), Heft 10, S. R75- (34S.)
    Online academicJournal
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    A low-cost wide-frequency-range three-phase sine-wave signal generator using direct digital synthesis technique.
    Yang, W. Q. ; Stott, A. L.
    In: Measurement Science & Technology, Jg. 5 (1994-07-01), S. 866-868
    Online academicJournal
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    Nanoimprint lithography 20 years on.
    Xia, Qiangfei ; R Fabian Pease
    In: Nanotechnology, Jg. 26 (2015-05-08), Heft 18, S. 1-1
    academicJournal
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