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    X-ray standing waves in LSM for characterization of ultra-thin films
    Kovalchuk, M. V. ; Sosphenov, A.N. ; et al.
    In: Journal of Physics D: Applied Physics, Jg. 26 (1993-04-14), S. A206- (4S.)
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
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    Surface residual stresses of LSM-treated martensitic stainless steel
    Weiping, Cai
    In: Journal of Physics: Condensed Matter, Jg. 5 (1993-12-06), S. L643- (4S.)
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
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    An irregular lattice spring model: uniform elasticity, grid refinement and isotropic crack propagation
    Gavin A Buxton
    In: Modelling and Simulation in Materials Science and Engineering, Jg. 30 (2022-05-17), S. 055002-55002
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
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    Elastic least-squares reverse-time migration with density variation for flaw imaging in heterogeneous structures
    Yang, Jizhong ; Rao, Jing ; et al.
    2019
    Online unknown
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    Volltext
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    Finite element analysis of the fracture behaviour of multi-layered systems used in solid oxide fuel cell applications
    Pitakthapanaphong, S ; Busso, Esteban P.
    In: Modelling and Simulation in Materials Science and Engineering, Jg. 13 (2005-04-11), S. 531-540
    Online unknown
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  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Screened real-space Korringa-Kohn-Rostoker description of the relativistic and magnetic properties of transition metals
    Petit, L. ; Szotek, Zdzislawa ; et al.
    In: Journal of Physics: Condensed Matter, Jg. 12 (2000-09-14), S. 8439-8454
    Online unknown
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    Driving models of high temperature superconducting linear synchronous motors and characteristic analysis
    Lu Hai Zheng ; Jian Xun Jin
    In: Superconductor Science and Technology, Jg. 24 (2011-03-07), S. 055011-55011
    Online unknown
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  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Fabrication of nano-sized grains by pulsed laser surface melting
    Ren, Luquan ; Guo, Qingchen ; et al.
    In: Journal of Physics D: Applied Physics, Jg. 43 (2010-02-19), S. 095402-95402
    Online unknown
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Tools for modeling radioactive contaminants in chip materials
    Schrimpf, Ronald D. ; Wrobel, Frédéric ; et al.
    In: Semiconductor Science and Technology, Jg. 32 (2017-02-01), S. 034001-34001
    Online unknown
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
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