Zum Hauptinhalt springen
UB Hagen

Suchergebnisse

UB Katalog

Artikel & mehr
135 Treffer

Suchmaske

Suchtipp für den Bereich Artikel & mehr: Wörter werden automatisch mit UND verknüpft. Eine ODER-Verknüpfung erreicht man mit dem Zeichen "|", eine NICHT-Verknüpfung mit einem "-" (Minus) vor einem Wort. Anführungszeichen ermöglichen eine Phrasensuche.
Beispiele: (burg | schloss) -mittelalter, "berufliche bildung"

Das folgende Suchfeld wird hier nicht unterstützt: "Signatur / Strichcode".

Suchergebnisse einschränken oder erweitern

Aktive Suchfilter

Erscheinungszeitraum

Mehr Treffer

Weniger Treffer

Gefunden in

Art der Quelle

Schlagwort

Publikation

Sprache

135 Treffer

Sortierung: 
  1. Detailansicht für Treffer 1 öffnen
    CMOS compatible manufacturing of a hybrid SET-FET circuit
    del Moral, Alberto ; Amat, Esteve ; et al.
    In: ISSN: 0268-1242, 2022
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    CMOS compatible manufacturing of a hybrid SET-FET circuit
    A del Moral ; Amat, E ; et al.
    In: Semiconductor Science and Technology, Jg. 37 (2022-11-15), S. 125014-125014
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Loss analysis and optimum design of a highly efficient and compact CMOS DC–DC converter with novel transistor layout using 60 nm multipillar-type vertical body channel MOSFET
    Endoh, Tetsuo ; Itoh, Kazuki
    In: Japanese Journal of Applied Physics, Jg. 57 (2018-03-16), S. 04FR12
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Strained SOI/SGOI dual-channel CMOS technology based on the Ge condensation technique
    Moriyama, Y. ; Mizuno, Tomohisa ; et al.
    In: Semiconductor Science and Technology, Jg. 22 (2006-11-30), S. S93- (6S.)
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Characterization and modelling of MOSFET operating at cryogenic temperature for hybrid superconductor-CMOS circuits
    Zhou, Peng ; Liu, Hongying ; et al.
    In: Semiconductor Science and Technology, Jg. 19 (2004-10-13), S. 1381-1385
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Design and Implementation of Hybrid Multiple Valued Logic Error Detector using Single Electron Transistor and CMOS at 120nm Technology
    Dakhole, Pravin ; Raut, Vaishali
    In: IOP Conference Series: Materials Science and Engineering, Jg. 225 (2017-08-01), S. 012160-12160
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    First-ever test and characterization of the AMS standard bulk 0.35 μm CMOS technology at sub-kelvin temperatures
    Rhouni, A ; Reveret, V. ; et al.
    In: Journal of Physics: Conference Series, Jg. 834 (2017-05-02), S. 012005-12005
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    New CMOS compatible super-junction LDMOST with n-type buried layer
    Bao-Xing, Duan ; Bo, Zhang ; et al.
    In: Chinese Physics, Jg. 16 (2007-12-01), S. 3754-3759
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Evaluation of strained Si/SiGe material for high performance CMOS
    Kwa, K.S.K. ; Robbins, D. J. ; et al.
    In: Semiconductor Science and Technology, Jg. 19 (2004-04-09), S. 707-714
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Relative performance of three nanoscale devices - CMOS, RTDs and QCAs - against a standard computing task
    Nikolic, Konstantin ; Berzon, D. ; et al.
    In: Nanotechnology, Jg. 12 (2001-01-19), S. 38-43
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Film thickness constraints for manufacturable strained silicon CMOS
    Leitz, C. W. ; Braithwaite, G. ; et al.
    In: Semiconductor Science and Technology, Jg. 19 (2003-11-03), S. L4- (5S.)
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    SiGe CMOS fabrication using SiGe MBE and anodic/LTO gate oxide
    Parker, Evan H. C. ; Waite, A.M. ; et al.
    In: Semiconductor Science and Technology, Jg. 15 (2000-02-01), S. 135-138
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    IC design of low power, wide tuning range VCO in 90 nm CMOS technology
    Faen, Liu ; Zhigong, Wang ; et al.
    In: Journal of Semiconductors, Jg. 35 (2014-12-01), S. 125013-125013
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Low-frequency noise reduction in vertical MOSFETs having tunable threshold voltage fabricated with 60 nm CMOS technology on 300 mm wafer process
    Endoh, Tetsuo ; Ma, Yitao ; et al.
    In: Japanese Journal of Applied Physics, Jg. 54 (2015-03-13), S. 04DC11
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    High efficiency grating couplers based on shared process with CMOS MOSFETs
    Shichang, Zou ; Fu-Wan, Gan ; et al.
    In: Chinese Physics B, Jg. 22 (2013-02-01), S. 024212-24212
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Engineering spacers in dopant-segregated Schottky barrier SOI MOSFET for nanoscale CMOS logic circuits
    Patil, Ganesh C. ; Qureshi, S.
    In: Semiconductor Science and Technology, Jg. 27 (2012-02-22), S. 045004-45004
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    RF CMOS modeling: a scalable model of RF-MOSFET with different numbers of fingers
    Lingling, Sun ; Jun, Liu ; et al.
    In: Journal of Semiconductors, Jg. 31 (2010-11-01), S. 114007-114007
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    TOT01, a time-over-threshold based readout chip in 180nm CMOS technology for silicon strip detectors
    Szczygiel, Robert ; Gryboś, P. ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 6 (2011-01-11), S. C01026
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Fabrication and characterization of groove-gate MOSFETs based on a self-aligned CMOS process
    In: Chinese Physics, Jg. 15 (2006), S. 195-198
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    RF CMOS modeling: a novel empirical large-signal model for an RF-MOSFET
    Lingling, Sun ; Binyi, Lü ; et al.
    In: Journal of Semiconductors, Jg. 31 (2010-04-01), S. 044009-44009
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -