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    CMOS design of a capacitively isolated AC switch driver for auto-turning frequency.
    Zhang, M ; Llaser, N
    In: Measurement Science & Technology, Jg. 34 (2023-11-01), Heft 11, S. 1-12
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    Contact engineering for organic CMOS circuits
    Chen, Quanhua ; Cao, Jiarong ; et al.
    In: JPhys Materials, Jg. 7 (2023), Heft 1, S. 012002-12002
    Online academicJournal
    Zugriff:
    View record in DOAJ (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    CMOS-compatible neuromorphic devices for neuromorphic perception and computing: a review
    Zhu, Yixin ; Mao, Huiwu ; et al.
    In: International Journal of Extreme Manufacturing, Jg. 5 (2023), Heft 4, S. 042010-42010
    Online academicJournal
    Zugriff:
    View record in DOAJ (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    RD50-MPW: a series of monolithic High Voltage CMOS pixel chips with high granularity and towards high radiation tolerance
    Zhang, C. ; Pilsl, B. ; et al.
    In: Journal of Instrumentation ; volume 19, issue 04, page C04059 ; ISSN 1748-0221, 2024
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    AstroPix4 — a novel HV-CMOS sensor developed for space based experiments
    Striebig, N. ; Leys, R. ; et al.
    In: Journal of Instrumentation ; volume 19, issue 04, page C04010 ; ISSN 1748-0221, 2024
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Discussion of Mechanical Shock Test Stress for Ultra-large-scale CMOS Image Sensors
    Xiong, Yuanyuan ; Rui, Erming ; et al.
    In: Journal of Physics: Conference Series ; volume 2694, issue 1, page 012028 ; ISSN 1742-6588 1742-6596, 2024
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    A prototype Radiation Energy Measuring Integrated Circuit with an asynchronous current-pulse reset block providing analog-to-digital conversion in 28 nm CMOS
    Kaczmarczyk, Piotr ; Kmon, Piotr
    In: Journal of Instrumentation ; volume 19, issue 04, page C04056 ; ISSN 1748-0221, 2024
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    MightyPix at the LHCb Mighty Tracker — verification of an HV-CMOS pixel chip's digital readout
    Scherl, S. ; Striebig, N. ; et al.
    In: Journal of Instrumentation ; volume 19, issue 04, page C04045 ; ISSN 1748-0221, 2024
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Measurement of UKRI-MPW0 after irradiation: an HV-CMOS prototype for high radiation tolerance
    Zhang, C. ; Hammerich, J. ; et al.
    In: Journal of Instrumentation ; volume 19, issue 03, page C03061 ; ISSN 1748-0221, 2024
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Monolithic HV-CMOS sensors for a beam monitoring system of therapeutic ion beams
    Topko, B. ; Balzer, M. ; et al.
    In: Journal of Instrumentation ; volume 19, issue 03, page C03043 ; ISSN 1748-0221, 2024
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Silicon flow stop frame for encapsulation of CMOS microsensor chips by wet anisotropic etching in KOH
    Dobroliubov, A ; Kakati, A ; et al.
    In: Engineering Research Express ; volume 6, issue 2, page 025002 ; ISSN 2631-8695, 2024
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Sub-50 mV power supply, recursive stacking body bias NAND gate for extremely low-voltage CMOS LSIs
    Sumi, Shintaro ; Sebe, Hikaru ; et al.
    In: Japanese Journal of Applied Physics ; volume 63, issue 3, page 03SP87 ; ISSN 0021-4922 1347-4065, 2024
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Multichannel integrated circuit for time-based measurements in 28 nm CMOS
    Kadlubowski, L.A. ; Kmon, P.
    In: Journal of Instrumentation ; volume 19, issue 02, page C02004 ; ISSN 1748-0221, 2024
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Ultra-low power 10-bit 50–90 MSps SAR ADCs in 65 nm CMOS for multi-channel ASICs
    Firlej, Mirosław ; Fiutowski, Tomasz ; et al.
    In: Journal of Instrumentation ; volume 19, issue 01, page P01029 ; ISSN 1748-0221, 2024
    academicJournal
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Upgrade of Belle II vertex detector with CMOS pixel technology
    Schwickardi, M. ; Babeluk, M. ; et al.
    In: Journal of Instrumentation ; volume 19, issue 01, page C01054 ; ISSN 1748-0221, 2024
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Recent developments in the IGNITE project on front-end design in CMOS 28-nm technology
    Cadeddu, Sandro ; Cossu, Gian Matteo ; et al.
    In: Journal of Instrumentation ; volume 19, issue 01, page C01040 ; ISSN 1748-0221, 2024
    academicJournal
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    First measurements with monolithic active pixel test structures produced in a 65 nm CMOS process
    Buckland, M.
    In: Journal of Instrumentation ; volume 19, issue 02, page C02017 ; ISSN 1748-0221, 2024
    academicJournal
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    CMOS-compatible manufacturability of sub-15 nm Si/SiO 2 /Si nanopillars containing single Si nanodots for single electron transistor applications
    von Borany, J. ; Engelmann, H. J. ; et al.
    2023
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Validation of the 65 nm TPSCo CMOS imaging technology for the ALICE ITS3
    Ferrero, C.
    In: Journal of Instrumentation ; volume 19, issue 04, page C04043 ; ISSN 1748-0221, 2024
    academicJournal
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    CMOS compatible manufacturing of a hybrid SET-FET circuit
    del Moral, Alberto ; Amat, Esteve ; et al.
    In: ISSN: 0268-1242, 2022
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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