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161 Treffer

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    ST-CMOS (Stacked Transistors CMOS): A double-poly-NMOS-compatible CMOS technology
    Colinge, J.P. ; Demoulin, E.
    In: 1981 International Electron Devices Meeting, 1981
    Online Konferenz
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    Volltext
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    Nonlinear analyses on CMOS integrated silicon pressure sensor
    Suzuki, K. ; Ishihara, T. ; et al.
    In: 1985 International Electron Devices Meeting, 1985
    Online Konferenz
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    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Sensitivity and noise of a lateral bipolar magnetotransistor in CMOS technology
    Popovic, R.S. ; Widmer, R.
    In: 1984 International Electron Devices Meeting, 1984
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Technology requirements for mega bit CMOS EPROMs
    Yoshikawa, K. ; Sato, M. ; et al.
    In: 1984 International Electron Devices Meeting, 1984
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Multilayer CMOS device fabricated on laser recrystallized silicon islands
    Akiyama, S. ; Ogawa, S. ; et al.
    In: 1983 International Electron Devices Meeting, 1983
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Novel SOI CMOS design using ultra thin near intrinsic substrate
    Malhi, S.D.S. ; Lam, H.W. ; et al.
    In: 1982 International Electron Devices Meeting, 1982
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Twin-tub CMOS - A technology for VLSI circuits
    Parrillo, L.C. ; Payne, R.S. ; et al.
    In: 1980 International Electron Devices Meeting, 1980
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    350°C CMOS logic process
    Beasom, J.D. ; Moore, R.D. ; et al.
    In: 1981 International Electron Devices Meeting, 1981
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    CMOS SRAM alpha particle modelling and experimental results
    Voldman, S. ; Corson, P. ; et al.
    In: 1987 International Electron Devices Meeting, 1987
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Design model for bulk CMOS scaling enabling accurate latch-up prediction
    Wieder, A.W. ; Werner, C. ; et al.
    In: 1981 International Electron Devices Meeting, 1981
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Deep trench isolated CMOS devices
    Rung, R.D. ; Momose, H. ; et al.
    In: 1982 International Electron Devices Meeting, 1982
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Advanced Hi-CMOS device technology
    Sakai, Y. ; Hayashida, T. ; et al.
    In: 1981 International Electron Devices Meeting, 1981
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    An analysis of latch-up prevention in CMOS IC's using an epitaxial-buried layer process
    Estreich, D.B. ; Ochoa, A. ; et al.
    In: 1978 International Electron Devices Meeting, 1978
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Characterization of CMOS latch-up
    Huang, C.C. ; Hartranft, M.D. ; et al.
    In: 1982 International Electron Devices Meeting, 1982
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    0.8µm Bi-CMOS technology with high fTion-implanted emitter bipolar transistor
    Iwai, H. ; Sasaki, G. ; et al.
    In: 1987 International Electron Devices Meeting, 1987
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    A single transistor EEPROM cell and its implementation in a 512K CMOS EEPROM
    Mukherjee, S. ; Chang, T. ; et al.
    In: 1985 International Electron Devices Meeting, 1985
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Design methodology for deep submicron CMOS
    Tanaka, K. ; Fukuma, M.
    In: 1987 International Electron Devices Meeting, 1987
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Characterization and modeling of a latchup-free 1-µm CMOS technology
    Taur, Y. ; Chang, W.H. ; et al.
    In: 1984 International Electron Devices Meeting, 1984
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    High speed CMOS technology for ASIC application
    Ooka, H. ; Murakami, S. ; et al.
    In: 1986 International Electron Devices Meeting, 1986
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    A new full CMOS SRAM cell structure
    Kudoh, O. ; Ooka, H. ; et al.
    In: 1984 International Electron Devices Meeting, 1984
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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