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In: Analog Integrated Circuits and Signal Processing: An International Journal, Jg. 47 (2006-04-01), Heft 1, S. 13-22Online academicJournalZugriff:
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In: Analog Integrated Circuits and Signal Processing: An International Journal, Jg. 39 (2004-04-01), Heft 1, S. 39-54Online academicJournalZugriff:
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In: Journal of Electronic Testing: Theory and Applications, Jg. 12 (1998-02-01), Heft 1-2, S. 101-110Online academicJournalZugriff:
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In: Analog Integrated Circuits and Signal Processing: An International Journal, Jg. 8 (1995-11-01), Heft 3, S. 219-231Online academicJournalZugriff:
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In: Analog Integrated Circuits and Signal Processing: An International Journal, Jg. 8 (1995-11-01), Heft 3, S. 233-246Online academicJournalZugriff:
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In: Analog Integrated Circuits and Signal Processing: An International Journal, Jg. 36 (2003-07-01), Heft 1-2, S. 57-67Online academicJournalZugriff:
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In: Analog Integrated Circuits and Signal Processing: An International Journal, Jg. 16 (1998-08-01), Heft 3, S. 285-297Online academicJournalZugriff:
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In: Journal of Electronic Testing: Theory and Applications, Jg. 9 (1996-12-01), Heft 3, S. 279-294Online academicJournalZugriff:
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In: Journal of Electronic Testing: Theory and Applications, Jg. 19 (2003-06-01), Heft 3, S. 353-357Online academicJournalZugriff:
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