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In: Microelectronics international, Jg. 30 (2013), Heft 3, S. 115-124Online academicJournalZugriff:
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In: Microelectronics international, Jg. 20 (2003), Heft 2, S. 16-18Online academicJournalZugriff:
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In: Microelectronics international, Jg. 28 (2011), Heft 2, S. 38-43Online academicJournalZugriff:
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In: Microelectronics international, Jg. 27 (2010), Heft 1, S. 39-44Online academicJournalZugriff:
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In: Microelectronics international, Jg. 29 (2012), Heft 3, S. 153-162Online academicJournalZugriff:
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In: Microelectronics international, Jg. 24 (2007), Heft 3, S. 34-41Online academicJournalZugriff:
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In: Microelectronics international, Jg. 26 (2009), Heft 3, S. 35-40Online academicJournalZugriff:
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In: Microelectronics international, Jg. 29 (2012), Heft 2, S. 90-95Online academicJournalZugriff:
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In: Microelectronics international, Jg. 25 (2008), Heft 3, S. 14-18Online academicJournalZugriff:
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In: Microelectronics international, Jg. 29 (2012), Heft 1, S. 22-34Online academicJournalZugriff:
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In: Microelectronics international, Jg. 28 (2011), Heft 2, S. 3-7Online academicJournalZugriff:
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In: Microelectronics international, Jg. 28 (2011), Heft 1, S. 4-7Online academicJournalZugriff:
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In: Microelectronics international, Jg. 23 (2006), Heft 2, S. 28-31Online academicJournalZugriff: