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    Author Correction: Highly accurate determination of heterogeneously stacked Van-der-Waals materials by optical microspectroscopy
    Hutzler, Andreas ; Fritsch, Birk ; et al.
    In: Scientific Reports, Jg. 13 (2023-12-01), Heft 1
    Online academicJournal
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    Unconventional conductivity increase in multilayer black phosphorus
    Koleśnik-Gray, Maria ; Meingast, Laura ; et al.
    In: npj 2D Materials and Applications, Jg. 7 (2023-12-01), Heft 1
    Online academicJournal
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    Growth and characterization of thorium-doped calcium fluoride single crystals
    Beeks, Kjeld ; Sikorsky, Tomas ; et al.
    In: Scientific Reports, Jg. 13 (2023-12-01), Heft 1
    Online academicJournal
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    Integrated 64 pixel UV image sensor and readout in a silicon carbide CMOS technology
    Romijn, Joost ; Vollebregt, Sten ; et al.
    In: Microsystems & Nanoengineering, Jg. 8 (2022-12-01), Heft 1
    Online academicJournal
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    Fabrication and nanophotonic waveguide integration of silicon carbide colour centres with preserved spin-optical coherence
    Babin, Charles ; Stöhr, Rainer ; et al.
    In: Nature Materials, Jg. 21 (2022), Heft 1, S. 67-73
    Online academicJournal
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    Highly accurate determination of heterogeneously stacked Van-der-Waals materials by optical microspectroscopy
    Hutzler, Andreas ; Fritsch, Birk ; et al.
    In: Scientific Reports, Jg. 10 (2020-12-01), Heft 1
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
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    The impact of dislocations on AlGaN/GaN Schottky diodes and on gate failure of high electron mobility transistors
    Besendörfer, Sven ; Meissner, Elke ; et al.
    In: Scientific Reports, Jg. 10 (2020-10-14), Heft 1
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
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    Wie komme ich dran?
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sm 576 - 768
md 768 - 992
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