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    A Hysteresis-Based D-Flip-Flop Design in 28 nm CMOS for Improved SER Hardness at Low Performance Overhead : Nuclear and space radiation effects; Nuclear and space radiation effects conference (NSREC): Miami, FL, July 16-20, 2012
    Narasimham, B. ; Chandrasekharan, K. ; et al.
    In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, Jg. 59 (2012), Heft 6, S. 2847-2851
    Online Konferenz
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    Wie komme ich dran?
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    Impact of Circuit Placement on Single Event Transients in 65 nm Bulk CMOS Technology : Nuclear and space radiation effects; Nuclear and space radiation effects conference (NSREC): Miami, FL, July 16-20, 2012
    Yibai, H. ; Shuming, C. ; et al.
    In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, Jg. 59 (2012), Heft 6, S. 2772-2777
    Online Konferenz
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    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Frequency Dependence of Alpha-Particle Induced Soft Error Rates of Flip-Flops in 40-nm CMOS Technology : Nuclear and space radiation effects; Nuclear and space radiation effects conference (NSREC): Miami, FL, July 16-20, 2012
    Jagannathan, S. ; Loveless, T.D. ; et al.
    In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, Jg. 59 (2012), Heft 6, S. 2796-2802
    Online Konferenz
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    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Radiation Effects in Pinned Photodiode CMOS Image Sensors: Pixel Performance Degradation Due to Total Ionizing Dose : Nuclear and space radiation effects; Nuclear and space radiation effects conference (NSREC): Miami, FL, July 16-20, 2012
    Goiffon, V. ; Estribeau, M. ; et al.
    In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, Jg. 59 (2012), Heft 6, S. 2878-2887
    Online Konferenz
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    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Differential Charge Cancellation (DCC) Layout as an RHBD Technique for Bulk CMOS Differential Circuit Design : Nuclear and space radiation effects; Nuclear and space radiation effects conference (NSREC): Miami, FL, July 16-20, 2012
    Blaine, R.W. ; Atkinson, N.M. ; et al.
    In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, Jg. 59 (2012), Heft 6, S. 2867-2871
    Online Konferenz
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    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Displacement Damage Effects in Pinned Photodiode CMOS Image Sensors : Nuclear and space radiation effects; Nuclear and space radiation effects conference (NSREC): Miami, FL, July 16-20, 2012
    Virmontois, C. ; Goiffon, V. ; et al.
    In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, Jg. 59 (2012), Heft 6, S. 2872-2877
    Online Konferenz
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    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Rad Tolerant CMOS Image Sensor Based on Hole Collection 4T Pixel Pinned Photodiode : Nuclear and space radiation effects; Nuclear and space radiation effects conference (NSREC): Miami, FL, July 16-20, 2012
    Place, S. ; Carrere, J. P. ; et al.
    In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, Jg. 59 (2012), Heft 6, S. 2888-2893
    Online Konferenz
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    Wie komme ich dran?
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    Real-Time Soft-Error Testing Results of 45-nm, High-K Metal Gate, Bulk CMOS SRAMs : Nuclear and space radiation effects; Nuclear and space radiation effects conference (NSREC): Miami, FL, July 16-20, 2012
    Seifert, N. ; Kirsch, M.
    In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, Jg. 59 (2012), Heft 6, S. 2818-2823
    Online Konferenz
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    Pulse Shape Measurements by On-Chip Sense Amplifiers of Single Event Transients Propagating Through a 90 nm Bulk CMOS Inverter Chain : Nuclear and space radiation effects; Nuclear and space radiation effects conference (NSREC): Miami, FL, July 16-20, 2012
    Hofbauer, M. ; Schweiger, K. ; et al.
    In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, Jg. 59 (2012), Heft 6, S. 2778-2784
    Online Konferenz
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    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Impact of Neutron-Induced Displacement Damage on the Multiple Bit Upset Sensitivity of a Bulk CMOS SRAM : Nuclear and space radiation effects; Nuclear and space radiation effects conference (NSREC): Miami, FL, July 16-20, 2012
    Gadlage, M.J. ; Kay, M.J. ; et al.
    In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, Jg. 59 (2012), Heft 6, S. 2722-2728
    Online Konferenz
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    Wie komme ich dran?
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xl 1200 - 1366
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