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  1. Detailansicht für Treffer 1 öffnen
    Image sensor pixel with on-chip high extinction ratio polarizer based on 65-nm standard CMOS technology.
    Sasagawa, K ; Shishido, S ; et al.
    In: Optics express, Jg. 21 (2013-05-06), Heft 9, S. 11132-40
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    Vulnerability of CMOS image sensors in Megajoule Class Laser harsh environment.
    Goiffon, V ; Girard, S ; et al.
    In: Optics express, Jg. 20 (2012-08-27), Heft 18, S. 20028-42
    Online academicJournal
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    10 Gbit/s all-optical NRZ-OOK to RZ-OOK format conversion in an ultra-small III-V-on-silicon microdisk fabricated in a CMOS pilot line.
    Kumar, R ; Spuesens, T ; et al.
    In: Optics express, Jg. 19 (2011-11-21), Heft 24, S. 24647-56
    Online academicJournal
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  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Color filters including infrared cut-off integrated on CMOS image sensor.
    Frey, L ; Parrein, P ; et al.
    In: Optics express, Jg. 19 (2011-07-04), Heft 14, S. 13073-80
    Online academicJournal
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  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Optical confinement methods for continued scaling of CMOS image sensor pixels.
    Fesenmaier, CC ; Huo, Y ; et al.
    In: Optics express, Jg. 16 (2008-12-08), Heft 25, S. 20457-70
    Online academicJournal
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  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Multi-beam confocal microscopy based on a custom image sensor with focal-plane pinhole array effect.
    Kagawa, K ; Seo, MW ; et al.
    In: Optics express, Jg. 21 (2013-01-28), Heft 2, S. 1417-29
    Online academicJournal
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    Variable-load quenching circuit for single-photon avalanche diodes.
    Tisa, S ; Guerrieri, F ; et al.
    In: Optics express, Jg. 16 (2008-02-04), Heft 3, S. 2232-44
    Online academicJournal
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
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sm 576 - 768
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