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    New structure transistors for advanced technology node CMOS ICs.
    Zhang, Qingzhu ; Zhang, Yongkui ; et al.
    In: National Science Review, Jg. 11 (2024-03-01), Heft 3, S. 1-18
    Online academicJournal
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    PICSARR: high-precision polarimetry using CMOS image sensors.
    Bailey, Jeremy ; Cotton, Daniel V ; et al.
    In: Monthly Notices of the Royal Astronomical Society, Jg. 520 (2023-04-01), Heft 2, S. 1938-1949
    Online academicJournal
    Zugriff:
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    Enterest.
    In: American Entomologist, Jg. 70 (2024-03-01), Heft 1, S. 4-8
    academicJournal
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    Industry News – July 2022.
    In: Microscopy Today, Jg. 30 (2022-07-01), Heft 4, S. 48-51
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
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    RADIATION DOSIMETRY PROPERTIES OF SMARTPHONE CMOS SENSORS.
    Van Hoey, Olivier ; Salavrakos, Alexia ; et al.
    In: Radiation Protection Dosimetry, Jg. 168 (2016-03-01), Heft 3, S. 314-321
    Online academicJournal
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    Multi-physics modelling contributions to investigate the atmospheric cosmic rays on the single event upset sensitivity along the scaling trend of CMOS technologies.
    Hubert, G. ; Regis, D. ; et al.
    In: Radiation Protection Dosimetry, Jg. 161 (2014-10-01), Heft 1-4, S. 290-294
    Online academicJournal
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    Development of a new electronic personal neutron dosemeter using a CMOS active pixel sensor.
    Trocmé, M. ; Higueret, S. ; et al.
    In: Radiation Protection Dosimetry, Jg. 126 (2007-08-01), Heft 1-4, S. 536-540
    Online academicJournal
    Zugriff:
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    Automated Crystal Orientation Mapping by Precession Electron Diffraction-Assisted Four-Dimensional Scanning Transmission Electron Microscopy Using a Scintillator-Based CMOS Detector.
    Jeong, Jiwon ; Cautaerts, Niels ; et al.
    In: Microscopy & Microanalysis, Jg. 27 (2021-10-01), Heft 5, S. 1102-1112
    Online academicJournal
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    Fluence measurement of fast neutron fields with a highly efficient recoil proton telescope using active pixel sensors.
    Taforeau, J. ; Higueret, S. ; et al.
    In: Radiation Protection Dosimetry, Jg. 161 (2014-10-01), Heft 1-4, S. 41-45
    Online academicJournal
    Zugriff:
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    First Results from a Novel CMOS Detector Optimised for 100keV CryoEM.
    Krukauskas, Deividas ; Starborg, Tobias ; et al.
    In: Microscopy & Microanalysis, Jg. 28 (2022-08-02), S. 1174-1175
    Online academicJournal
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    Dynamical influence of a central massive object on double-barred galaxies: self-destruction mechanism of secondary bars.
    Nakatsuno, Naoki ; Baba, Junichi
    In: Publications of the Astronomical Society of Japan, Jg. 76 (2024-04-01), Heft 2, S. 316-328
    Online academicJournal
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    Aberrant monocytopoiesis drives granuloma development in sarcoidosis.
    Hiranuma, Ryosuke ; Sato, Ryota ; et al.
    In: International Immunology, Jg. 36 (2024-04-01), Heft 4, S. 183-196
    academicJournal
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    Results from the Quantum C100, a Novel CMOS Detector Optimised for 100 keV Cryo Electron Microscopy.
    Krukauskas, Deividas ; Sharkawy, Mohamed El ; et al.
    In: Microscopy & Microanalysis, 2023-02-02, S. 1060-1060
    Online academicJournal
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    Modified realist evaluation of a complex, multi-centred, multi-intervention programme.
    Greenhalgh, C ; Williams, G ; et al.
    In: Journal of Public Health, Jg. 45 (2023-12-02), S. i5- (5S.)
    academicJournal
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    The Benefits and Applications of a CMOS-based EBSD Detector.
    Goulden, J. ; Trimby, P. ; et al.
    In: Microscopy & Microanalysis, 2019-08-02, S. 1128-1129
    Online academicJournal
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    Strain Characterization of Advanced CMOS Transistors: An Industry Perspective.
    Zhang, Jiong ; Weng, Xiaojun ; et al.
    In: Microscopy & Microanalysis, 2019-08-02, S. 974-975
    Online academicJournal
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    2D-mapping of dopant distribution in deep sub micron CMOS devices by electron holography using adapted FIB-preparation.
    Lenk, Andreas ; Lichte, Hannes ; et al.
    In: Journal of Electron Microscopy, Jg. 54 (2005-08-01), Heft 4, S. 351-359
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    Measurement of cell volume using in-line digital holography.
    Ling, Hangjian ; Sridhar, Kaushik ; et al.
    In: Microscopy, Jg. 70 (2021-08-01), Heft 4, S. 333-339
    academicJournal
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    Quantum Efficiency of Back-illuminated CMOS Sensor with 1.4×1.4 μm<superscript>2</superscript> Pixel Size.
    Ejima, Takeo ; Hatano, Tadashi
    In: Microscopy & Microanalysis, Jg. 24 (2018-08-03), S. 320-321
    Online academicJournal
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    The Benefits and Applications of a CMOS-based EBSD Detector.
    Goulden, J. ; Trimby, P. ; et al.
    In: Microscopy & Microanalysis, Jg. 24 (2018-08-02), S. 1128-1129
    Online academicJournal
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