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    A PHYSICALLY-DERIVED LARGE-SIGNAL NONQUASI-STATIC MOSFET MODEL FOR COMPUTER AIDED DEVICE AND CIRCUIT SIMULATION PART II - THE CMOS NOR GATE AND THE CMOS NAND GATE : IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS): May 23-26, 2005, International Conference Center, Kobe, Japan : conference proceedings
    Payton, M. ; Ho, F.
    In: IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON CIRCUITS AND SYSTEMS, Jg. 6 (2005), S. 5657-5661
    Konferenz
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    HIGH-SPEED CMOS-TO-ECL PAD DRIVER IN 0.18muM CMOS : IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS): May 23-26, 2005, International Conference Center, Kobe, Japan : conference proceedings
    Centurelli, F. ; Lulli, G. ; et al.
    In: IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON CIRCUITS AND SYSTEMS, Jg. 1 (2005), S. 448-451
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    An Evaluation of CMOS Adders in Deep Submicron Processes : Southeastern symposium on system theory; 2012
    Gera, R.J. ; Hoe, D.H.
    In: SOUTHEASTERN SYMPOSIUM ON SYSTEM THEORY, Jg. 44 (2012), S. 126-129
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    An Evaluation of CMOS Adders in Deep Submicron Processes : Southeastern symposium on system theory; 2012
    Gera, R.J. ; Hoe, D.H.
    In: SOUTHEASTERN SYMPOSIUM ON SYSTEM THEORY, Jg. 44 (2012), S. 126-129
    Konferenz
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    Design for Test and Reliability in Ultimate CMOS : Design, automation and test in Europe
    Nicolaidis, M. ; Anghel, L. ; et al.
    In: DATE -PROCEEDINGS- HARDCOPY-, 2012, Heft 1, S. 677-682
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Beyond CMOS - Benchmarking for Future Technologies : Design, automation and test in Europe
    Torres, C.M.S. ; Ahopelto, J. ; et al.
    In: DATE -PROCEEDINGS- HARDCOPY-, 2012, Heft 1, S. 129-134
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    A Framework for Simulating Hybrid MTJ/CMOS Circuits: Atoms to System Approach : Design, automation and test in Europe
    Panagopoulos, G. ; Augustine, C. ; et al.
    In: DATE -PROCEEDINGS- HARDCOPY-, 2012, Heft 2, S. 1443-1446
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Spintronic Memristor Based Temperature Sensor Design with CMOS Current Reference : Design, automation and test in Europe
    Bi, X. ; Zhang, C. ; et al.
    In: DATE -PROCEEDINGS- HARDCOPY-, 2012, Heft 2, S. 1301-1306
    Konferenz
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    Subthreshold Voltage High-k CMOS Devices Have Lowest Energy and High Process Tolerance : Southeastern symposium on system theory
    Venkatasubramanian, M. ; Agrawal, V.
    In: SOUTHEASTERN SYMPOSIUM ON SYSTEM THEORY, 2011, S. 98-103
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Fault Clustering in Deep-Submicron CMOS Processes : Design, automation and test in Europe
    Schat, J.
    In: DATE -PROCEEDINGS- HARDCOPY EDITION-, 2008, Heft 3, S. 1360-1363
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
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    Emerging Yield and Reliability Challenges in Nanometer CMOS Technologies : Design, automation and test in Europe
    Gielen, G. ; DeWit, P. ; et al.
    In: DATE -PROCEEDINGS- HARDCOPY EDITION-, 2008, Heft 3, S. 1164-1169
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
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    Globally Optimized Robust Systems to Overcome Scaled CMOS Challenges : Design, automation and test in Europe
    Mitra, S.
    In: DATE -PROCEEDINGS- HARDCOPY EDITION-, 2008, Heft 2, S. 820-825
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Calibration of Integrated CMOS Hall Sensors Using Coil-on-Chip in ATE Environment : Design, automation and test in Europe
    Badaroglu, M. ; Decabooter, G. ; et al.
    In: DATE -PROCEEDINGS- HARDCOPY EDITION-, 2008, Heft 2, S. 752-757
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
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    On Modeling and Testing of Lithography Related Open Faults In Nano-CMOS Circuits : Design, automation and test in Europe
    Sreedhar, A. ; Sanyal, A. ; et al.
    In: DATE -PROCEEDINGS- HARDCOPY EDITION-, 2008, Heft 2, S. 533-538
    Online Konferenz
    Zugriff:
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    A Current Source Model for CMOS Logic Cells Considering Multiple Input Switching and Stack Effect : Design, automation and test in Europe
    Amelifard, B. ; Hatami, S. ; et al.
    In: DATE -PROCEEDINGS- HARDCOPY EDITION-, 2008, Heft 1, S. 485-490
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    A 1.8V 3.2muW COMPARATOR FOR USE IN A CMOS IMAGER COLUMN-LEVEL SINGLE-SLOPE ADC : IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS): May 23-26, 2005, International Conference Center, Kobe, Japan : conference proceedings
    Snoeij, M. ; Theuwissen, A. ; et al.
    In: IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON CIRCUITS AND SYSTEMS, Jg. 6 (2005), S. 6162-6165
    Konferenz
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    A 4-BIT 5GS/S FLASH A/D CONVERTER IN 0.18muM CMOS : IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS): May 23-26, 2005, International Conference Center, Kobe, Japan : conference proceedings
    Sheikhaei, S. ; Mirabbasi, S. ; et al.
    In: IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON CIRCUITS AND SYSTEMS, Jg. 6 (2005), S. 6138-6141
    Konferenz
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    A 0.35muM CMOS COMPARATOR CIRCUIT FOR HIGH-SPEED ADC APPLICATIONS : IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS): May 23-26, 2005, International Conference Center, Kobe, Japan : conference proceedings
    Sheikhaei, S. ; Mirabbasi, S. ; et al.
    In: IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON CIRCUITS AND SYSTEMS, Jg. 6 (2005), S. 6134-6137
    Konferenz
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    BROADBAND DIELECTRIC SPECTROSCOPY CMOS READOUT CIRCUIT FOR MOLECULAR SENSING : IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS): May 23-26, 2005, International Conference Center, Kobe, Japan : conference proceedings
    Kim, Y. ; Agarwal, A. ; et al.
    In: IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON CIRCUITS AND SYSTEMS, Jg. 6 (2005), S. 5906-5909
    Konferenz
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    A 2V 0.25muM CMOS 250MHZ FULLY-DIFFERENTIAL SEVENTH-ORDER EQUIRIPPLE LINEAR PHASE LF FILTER : IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS): May 23-26, 2005, International Conference Center, Kobe, Japan : conference proceedings
    Hasan, M. ; Sun, Y.
    In: IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON CIRCUITS AND SYSTEMS, Jg. 6 (2005), S. 5958-5961
    Konferenz
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